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株式会社アドバンテスト
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2011年：第199位 212件）
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2011年：第170位 211件）
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株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5100750 | プローブ、プローブカード及びプローブの製造方法 | 2012年12月19日 | |
| 特許 5100663 | 試験装置および試験方法 | 2012年12月19日 | |
| 特許 5100086 | インダクタ素子およびその製造方法 | 2012年12月19日 | |
| 特許 5100217 | プローブカード及び電子部品試験装置 | 2012年12月19日 | |
| 特許 5100601 | 複数のインクリメントを行うリード・モディファイ・ライトサイクルでのヒストグラム生成 | 2012年12月19日 | |
| 特許 5100645 | 試験装置および試験モジュール | 2012年12月19日 | |
| 特許 5100751 | プローブおよびプローブカード | 2012年12月19日 | |
| 特許 5087704 | 試験装置および救済解析方法 | 2012年12月 5日 | |
| 特許 5087557 | 試験装置 | 2012年12月 5日 | |
| 特許 5087398 | 試験装置及びデバイスインターフェイス装置 | 2012年12月 5日 | |
| 特許 5089237 | テストユニット装置および試験装置 | 2012年12月 5日 | |
| 特許 5087533 | ネットワークアナライザ、ネットワーク解析方法、自動校正器、校正方法、プログラムおよび記録媒体 | 2012年12月 5日 | |
| 特許 5087634 | コンタクトアームの接触部の異常を検出する異常検出装置 | 2012年12月 5日 | |
| 特許 5089396 | 試験装置、ピンエレクトロニクスカード、電気機器、及びスイッチ | 2012年12月 5日 | |
| 特許 5087623 | 測定装置およびプログラム | 2012年12月 5日 |
196 件中 1-15 件を表示
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5100750 5100663 5100086 5100217 5100601 5100645 5100751 5087704 5087557 5087398 5089237 5087533 5087634 5089396 5087623
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