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株式会社アドバンテスト
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第557位 58件
（
2013年：第338位 127件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第379位 97件
（2013年：第163位 256件）
（ランキング更新日：2025年3月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5642108 | パターン測定方法及びパターン測定装置 | 2014年12月17日 | 共同出願 |
| 特許 5639690 | 付着量測定装置、測定方法、プログラム、記録媒体 | 2014年12月10日 | |
| 特許 5629723 | 半導体ウェハの試験方法 | 2014年11月26日 | 共同出願 |
| 特許 5629680 | ピンカードおよびそれを用いた試験装置 | 2014年11月26日 | |
| 特許 5629670 | 試験用キャリア | 2014年11月26日 | |
| 特許 5619855 | プローブ装置、試験装置、及び、プローブ方法 | 2014年11月 5日 | |
| 特許 5616119 | 試験用キャリア | 2014年10月29日 | |
| 特許 5616047 | 製造装置、試験装置、製造方法および集積回路パッケージ | 2014年10月29日 | |
| 特許 5616391 | アクチュエータ装置、試験装置、および試験方法 | 2014年10月29日 | |
| 特許 5603705 | デバイスインターフェイス装置および試験装置 | 2014年10月 8日 | |
| 特許 5603888 | 算出装置、測定装置、電子デバイス、プログラム、記憶媒体および算出方法 | 2014年10月 8日 | |
| 特許 5603674 | スイッチ装置および試験装置 | 2014年10月 8日 | |
| 特許 5595296 | 信号発生装置および試験装置 | 2014年 9月24日 | |
| 特許 5588347 | プローブ装置および試験装置 | 2014年 9月10日 | |
| 特許 5588493 | 電子ビーム露光方法 | 2014年 9月10日 |
97 件中 1-15 件を表示
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5642108 5639690 5629723 5629680 5629670 5619855 5616119 5616047 5616391 5603705 5603888 5603674 5595296 5588347 5588493
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