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株式会社アドバンテスト
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■ 2015年 出願公開件数ランキング 第903位 31件
（
2014年：第557位 58件）
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第500位 49件
（2014年：第379位 97件）
（ランキング更新日：2025年3月24日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5833500 | 試験システム | 2015年12月16日 | |
| 特許 5833501 | 試験システム | 2015年12月16日 | |
| 特許 5833502 | テストプログラム | 2015年12月16日 | |
| 特許 5826926 | 電気的に結合された複数の半導体ダイをウェハのスクライブライン内に位置する検査アクセスインタフェースと接触させる方法、装置、及びシステム | 2015年12月 2日 | |
| 特許 5824337 | 試験用キャリア | 2015年11月25日 | |
| 特許 5816144 | テストプログラムおよび試験システム | 2015年11月18日 | |
| 特許 5816365 | 試験用キャリア | 2015年11月18日 | |
| 特許 5809590 | 信号発生装置および信号発生方法 | 2015年11月11日 | |
| 特許 5809598 | 信号測定装置、信号測定方法、プログラム、記録媒体 | 2015年11月11日 | |
| 特許 5809674 | 光線入射装置および反射光測定装置 | 2015年11月11日 | |
| 特許 5809749 | 光音響波測定装置、方法、プログラム、記録媒体 | 2015年11月11日 | |
| 特許 5785887 | 試験装置および試験モジュール | 2015年 9月30日 | |
| 特許 5785888 | 試験装置および試験モジュール | 2015年 9月30日 | |
| 特許 5761976 | 半導体装置、試験装置、および製造方法 | 2015年 8月12日 | |
| 特許 5764032 | ワイヤレス給電装置、受電装置および給電システム | 2015年 8月12日 |
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5833500 5833501 5833502 5826926 5824337 5816144 5816365 5809590 5809598 5809674 5809749 5785887 5785888 5761976 5764032
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