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株式会社アドバンテスト

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  2013年 出願公開件数ランキング    第338位 127件 下降2012年:第193位 230件)

  2013年 特許取得件数ランキング    第163位 256件 上昇2012年:第199位 196件)

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特許 5379744 データラッチ回路およびそれを用いた試験装置 2013年12月25日
特許 5378273 コンタクトプローブ及びソケット、チューブ状プランジャの製造方法、並びにコンタクトプローブの製造方法 2013年12月25日 共同出願
特許 5379571 パターン検査装置及びパターン検査方法 2013年12月25日
特許 5379600 パルスエッジシフトによる変調方法および変調器 2013年12月25日
特許 5379685 試験装置 2013年12月25日
特許 5379742 試験装置、試験方法、およびデバイスインターフェイス 2013年12月25日
特許 5379844 レーザ発振器 2013年12月25日 共同出願
特許 5368006 走査型電子顕微鏡及び試料観察方法 2013年12月18日
特許 5368578 固定具 2013年12月18日
特許 5368565 半導体ウェハの試験方法及び半導体ウェハ試験装置 2013年12月18日
特許 5368440 試験システム 2013年12月18日
特許 5368290 キャリア組立装置 2013年12月18日
特許 5368580 基板装着装置、テストヘッド、及び電子部品試験装置 2013年12月18日
特許 5368086 マルチコラム電子ビーム露光装置及びマルチコラム電子ビーム露光方法 2013年12月18日
特許 5363437 試験装置 2013年12月11日

256 件中 1-15 件を表示

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5379744 5378273 5379571 5379600 5379685 5379742 5379844 5368006 5368578 5368565 5368440 5368290 5368580 5368086 5363437

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