ホーム > 特許ランキング > 株式会社アドバンテスト > 2013年 > 特許一覧
株式会社アドバンテスト
※ ログインすれば出願人(株式会社アドバンテスト)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2013年 出願公開件数ランキング 第338位 127件
（
2012年：第193位 230件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第163位 256件
（
2012年：第199位 196件）
（ランキング更新日：2024年9月20日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年
株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5379744 | データラッチ回路およびそれを用いた試験装置 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5378273 | コンタクトプローブ及びソケット、チューブ状プランジャの製造方法、並びにコンタクトプローブの製造方法 | 2013年12月25日 | 共同出願 |
| 特許 5379571 | パターン検査装置及びパターン検査方法 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5379600 | パルスエッジシフトによる変調方法および変調器 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5379685 | 試験装置 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5379742 | 試験装置、試験方法、およびデバイスインターフェイス | 2013年12月25日 | |
| 特許 5379844 | レーザ発振器 | 2013年12月25日 | 共同出願 |
| 特許 5368006 | 走査型電子顕微鏡及び試料観察方法 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5368578 | 固定具 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5368565 | 半導体ウェハの試験方法及び半導体ウェハ試験装置 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5368440 | 試験システム | 2013年12月18日 | |
| 特許 5368290 | キャリア組立装置 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5368580 | 基板装着装置、テストヘッド、及び電子部品試験装置 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5368086 | マルチコラム電子ビーム露光装置及びマルチコラム電子ビーム露光方法 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5363437 | 試験装置 | 2013年12月11日 |
256 件中 1-15 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
5379744 5378273 5379571 5379600 5379685 5379742 5379844 5368006 5368578 5368565 5368440 5368290 5368580 5368086 5363437
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社アドバンテストの知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
9月24日(火) -
9月24日(火) -
9月24日(火) - 石川 金沢市
9月24日(火) -
9月25日(水) - 愛知 名古屋市
9月25日(水) -
最新の制度改正を反映 海外の特許制度と実務上の留意点（米国・欧州（EPC)・中国）～米国ならびに EPC （欧州特許条約）・中国の各制度の下でのグローバル特許取得の基本的な知識と留意点を解説します～
9月25日(水) - 東京 港
9月25日(水) -
9月25日(水) - 愛知 名古屋市
9月25日(水) - 東京 千代田区
9月25日(水) - 東京 千代田区
9月26日(木) -
9月26日(木) -
9月27日(金) -
9月27日(金) - 東京 23区
9月27日(金) - 神奈川 川崎市
9月27日(金) - 東京 港区
9月24日(火) -
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
千葉県船橋市本町6-2-10 ダイアパレスステーションプラザ315 特許・実用新案 商標 外国商標 コンサルティング
〒152-0034 東京都目黒区緑が丘一丁目16番7号 意匠 商標 外国商標 訴訟 コンサルティング
東京都新宿区西新宿8-1-9 シンコービル 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
