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株式会社アドバンテスト
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第193位 230件
（
2011年：第199位 212件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第199位 196件
（
2011年：第170位 211件）
（ランキング更新日：2025年3月17日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5066075 | キャリブレーション装置、試験装置、キャリブレーション方法、及び試験方法 | 2012年11月 7日 | |
| 特許 5066252 | パターン測長装置及びパターン測長方法 | 2012年11月 7日 | |
| 特許 5065643 | 光周波数安定化光源および光周波数安定化装置 | 2012年11月 7日 | |
| 特許 5066076 | 試験装置及びパフォーマンスボード | 2012年11月 7日 | |
| 特許 5053932 | バッファ回路、増幅回路、および、試験装置 | 2012年10月24日 | |
| 特許 5054037 | ＡＴＥ用のファブリックベースの高速シリアルクロスバースイッチ | 2012年10月24日 | |
| 特許 5054106 | 試験装置および回路装置 | 2012年10月24日 | |
| 特許 5047283 | 試験装置 | 2012年10月10日 | |
| 特許 5047192 | 電子ビーム露光装置 | 2012年10月10日 | |
| 特許 5047189 | 電子ビーム露光装置及び電子ビーム露光方法 | 2012年10月10日 | |
| 特許 5047187 | キャリブレーション装置、キャリブレーション方法、及び試験装置 | 2012年10月10日 | |
| 特許 5046448 | 半導体試験装置及びその試験方法 | 2012年10月10日 | |
| 特許 5047188 | ＴＣＰハンドリング装置および当該装置における接続端子の位置合わせ方法 | 2012年10月10日 | |
| 特許 5047322 | プローブカード及びその製造方法 | 2012年10月10日 | |
| 特許 5037850 | 電子ビーム露光装置 | 2012年10月 3日 |
196 件中 31-45 件を表示
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5066075 5066252 5065643 5066076 5053932 5054037 5054106 5047283 5047192 5047189 5047187 5046448 5047188 5047322 5037850
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