ホーム > 特許ランキング > 株式会社アドバンテスト > 2011年 > 特許一覧
株式会社アドバンテスト
※ ログインすれば出願人(株式会社アドバンテスト)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2011年 出願公開件数ランキング 第199位 212件
（
2010年：第235位 206件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第170位 211件
（
2010年：第155位 204件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年
株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4792267 | 表面状態測定方法及び装置 | 2011年10月12日 | 共同出願 |
| 特許 4789460 | 光スイッチ及び光試験装置 | 2011年10月12日 | |
| 特許 4789125 | 電子部品試験用ソケットおよびこれを用いた電子部品試験装置 | 2011年10月12日 | |
| 特許 4792530 | レーザ光パルスの位相制御装置 | 2011年10月12日 | |
| 特許 4790087 | 電子部品の温度制御装置 | 2011年10月12日 | |
| 特許 4792340 | 試験装置および試験方法 | 2011年10月12日 | |
| 特許 4792541 | 試験装置および試験方法 | 2011年10月12日 | |
| 特許 4786368 | マルチコラム用電子ビーム生成装置 | 2011年10月 5日 | |
| 特許 4786767 | 繰り返し周波数制御装置 | 2011年10月 5日 | |
| 特許 4780587 | 検証プログラム、検証装置及び検証方法 | 2011年 9月28日 | |
| 特許 4782640 | 試験装置 | 2011年 9月28日 | |
| 特許 4782271 | 半導体デバイス試験方法・半導体デバイス試験装置 | 2011年 9月28日 | |
| 特許 4782889 | 繰り返し周波数制御装置 | 2011年 9月28日 | |
| 特許 4782502 | 周波数成分測定装置 | 2011年 9月28日 | |
| 特許 4776648 | 被測定ＬＳＩの位相差検出器 | 2011年 9月21日 |
211 件中 46-60 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
4792267 4789460 4789125 4792530 4790087 4792340 4792541 4786368 4786767 4780587 4782640 4782271 4782889 4782502 4776648
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社アドバンテストの知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
11月25日(月) -
11月25日(月) - 岐阜 各務原市
11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
東京都江戸川区西葛西3-13-2-501 特許・実用新案 意匠 商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
東京都新宿区四谷2-12-5 四谷ISYビル3階 PDI特許商標事務所内 特許・実用新案 訴訟 鑑定 コンサルティング
愛知県豊橋市西幸町字浜池３３３－９ 豊橋サイエンスコア１０９ 特許・実用新案 商標
