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株式会社アドバンテスト
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第338位 127件
（
2012年：第193位 230件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第163位 256件
（
2012年：第199位 196件）
（ランキング更新日：2025年3月26日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5314705 | ＡＤ変換装置、ＤＡ変換装置および調整方法 | 2013年10月16日 | 共同出願 |
| 特許 5314668 | 電子部品移載装置およびそれを備えた電子部品試験装置 | 2013年10月16日 | |
| 特許 5314693 | 試験モジュールおよび試験方法 | 2013年10月16日 | |
| 特許 5314684 | 試験用ウエハ、および、試験システム | 2013年10月16日 | |
| 特許 5314686 | 試験装置およびドライバ回路 | 2013年10月16日 | |
| 特許 5314491 | 試験装置、試験方法、および、デバイス | 2013年10月16日 | |
| 特許 5314412 | 電源装置および試験装置 | 2013年10月16日 | |
| 特許 5314732 | 試験装置 | 2013年10月16日 | |
| 特許 5314683 | プローブウエハ、プローブ装置および試験システム | 2013年10月16日 | |
| 特許 5314755 | 受信装置、試験装置、受信方法および試験方法 | 2013年10月16日 | |
| 特許 5314634 | 試験装置、試験方法、およびデバイスインターフェイス | 2013年10月16日 | |
| 特許 5306326 | プローブウエハ、プローブ装置、および、試験システム | 2013年10月 2日 | |
| 特許 5306343 | 試験用基板製造装置、試験用基板製造方法、および、プログラム | 2013年10月 2日 | |
| 特許 5305701 | 電子ビーム露光装置及び電子ビーム露光方法 | 2013年10月 2日 | |
| 特許 5306192 | プローブカードの固定装置 | 2013年10月 2日 |
256 件中 46-60 件を表示
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5314705 5314668 5314693 5314684 5314686 5314491 5314412 5314732 5314683 5314755 5314634 5306326 5306343 5305701 5306192
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