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株式会社アドバンテスト
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第338位 127件
（
2012年：第193位 230件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第163位 256件
（
2012年：第199位 196件）
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株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5291582 | 測定装置、試験システム、および測定方法 | 2013年 9月18日 | |
| 特許 5291395 | 伝送システム、送信装置、受信装置、及び、伝送方法 | 2013年 9月18日 | |
| 特許 5291309 | 高電子移動度トランジスタおよび電子デバイス | 2013年 9月18日 | |
| 特許 5291289 | 試験装置および検出方法 | 2013年 9月18日 | |
| 特許 5284894 | エッジコネクタ及び半導体試験装置 | 2013年 9月11日 | 共同出願 |
| 特許 5279500 | ジッタ測定装置、ジッタ測定方法、記録媒体、及びプログラム | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5279641 | 試験装置およびその診断方法 | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5282093 | 電子部品の試験方法及び電子部品試験システム | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5282082 | プローブ装置および試験システム | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5282032 | トレイ格納装置、電子部品試験装置及びトレイ格納方法 | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5279818 | 試験モジュール、試験装置および試験方法 | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5279817 | 試験装置および試験方法 | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5279816 | 試験モジュール、試験装置および試験方法 | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5279724 | 試験装置およびキャリブレーション方法 | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5274365 | 信号測定装置、信号測定方法、記録媒体、および試験装置 | 2013年 8月28日 |
256 件中 76-90 件を表示
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5291582 5291395 5291309 5291289 5284894 5279500 5279641 5282093 5282082 5282032 5279818 5279817 5279816 5279724 5274365
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