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株式会社アドバンテスト
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第199位 212件
（
2010年：第235位 206件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第170位 211件
（
2010年：第155位 204件）
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株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4732156 | 偏光方向変換装置及び偏光方向変換方法 | 2011年 7月27日 | |
| 特許 4731849 | 半導体集積回路の製造方法 | 2011年 7月27日 | 共同出願 |
| 特許 4729212 | 半導体試験装置 | 2011年 7月20日 | |
| 特許 4729179 | メモリ試験方法・メモリ試験装置 | 2011年 7月20日 | |
| 特許 4729201 | 電子ビーム補正方法 | 2011年 7月20日 | |
| 特許 4729403 | 電子ビーム露光装置 | 2011年 7月20日 | |
| 特許 4729205 | 位置検出装置、位置検出方法及び電子部品搬送装置 | 2011年 7月20日 | |
| 特許 4729153 | 測定器制御アダプター、測定システム、測定器制御方法及び記録媒体 | 2011年 7月20日 | |
| 特許 4729404 | ノイズ除去装置、電源装置、及び試験装置 | 2011年 7月20日 | |
| 特許 4729637 | 同期回路および同期方法、ならびにそれを用いた試験装置 | 2011年 7月20日 | |
| 特許 4729228 | 遅延回路およびリング発振器 | 2011年 7月20日 | |
| 特許 4729384 | 測定装置及び測定方法 | 2011年 7月20日 | |
| 特許 4729256 | 特定メモリ試験用イベント型テストシステム | 2011年 7月20日 | |
| 特許 4729251 | 高周波遅延回路、及び試験装置 | 2011年 7月20日 | |
| 特許 4721565 | 半導体デバイス試験装置 | 2011年 7月13日 |
211 件中 91-105 件を表示
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4732156 4731849 4729212 4729179 4729201 4729403 4729205 4729153 4729404 4729637 4729228 4729384 4729256 4729251 4721565
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