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株式会社アドバンテスト
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第193位 230件
（
2011年：第199位 212件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第199位 196件
（
2011年：第170位 211件）
（ランキング更新日：2025年3月17日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4972557 | インサート、テストトレイおよび半導体試験装置 | 2012年 7月11日 | |
| 特許 4972453 | 電圧発生装置、電流発生装置および試験装置 | 2012年 7月11日 | |
| 特許 4972418 | 試験装置およびプローブカード | 2012年 7月11日 | |
| 特許 4972386 | 試験装置および測定装置 | 2012年 7月11日 | |
| 特許 4972245 | 計測器、計測器制御装置、計測システム、測定処理実行方法及び半導体試験装置 | 2012年 7月11日 | |
| 特許 4972682 | 試験装置 | 2012年 7月11日 | |
| 特許 4960040 | 光生成装置および該装置を備えたテラヘルツ光生成装置 | 2012年 6月27日 | 共同出願 |
| 特許 4959723 | 電子銃及び電子ビーム露光装置 | 2012年 6月27日 | 共同出願 |
| 特許 4961129 | 光伝送手段付き密封部材，光電子装置及び光伝送方法 | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4956419 | 電位比較器 | 2012年 6月20日 | |
| 特許 4956597 | 半導体試験装置 | 2012年 6月20日 | |
| 特許 4956312 | 遅延線 | 2012年 6月20日 | |
| 特許 4956003 | パルス幅調整回路、パルス幅調整方法、及び半導体試験装置 | 2012年 6月20日 | |
| 特許 4951365 | 試験装置およびプログラム | 2012年 6月13日 | |
| 特許 4954257 | 伝送回路、ＣＭＯＳ半導体デバイス、及び設計方法 | 2012年 6月13日 |
196 件中 91-105 件を表示
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4972557 4972453 4972418 4972386 4972245 4972682 4960040 4959723 4961129 4956419 4956597 4956312 4956003 4951365 4954257
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