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株式会社アドバンテスト
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第338位 127件
（
2012年：第193位 230件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第163位 256件
（
2012年：第199位 196件）
（ランキング更新日：2025年5月2日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5275351 | ＡＤ変換装置 | 2013年 8月28日 | 共同出願 |
| 特許 5274654 | 収容具、収容具配置方法および測定方法 | 2013年 8月28日 | |
| 特許 5274648 | 試験装置、キャリブレーション方法、および、プログラム | 2013年 8月28日 | |
| 特許 5274551 | デジタル変調信号の試験装置および試験方法 | 2013年 8月28日 | |
| 特許 5274543 | イコライザ回路、それを用いたトランスミッタおよび試験装置ならびに、波形整形方法 | 2013年 8月28日 | |
| 特許 5274428 | 測定装置および試験装置 | 2013年 8月28日 | |
| 特許 5274365 | 信号測定装置、信号測定方法、記録媒体、および試験装置 | 2013年 8月28日 | |
| 特許 5274281 | 電圧測定装置、方法、プログラム、記録媒体およびテスタ | 2013年 8月28日 | |
| 特許 5274092 | プログラムおよび試験装置 | 2013年 8月28日 | |
| 特許 5274016 | 試験装置、プログラム、及び記録媒体 | 2013年 8月28日 | |
| 特許 5274660 | タイミング発生器および試験装置 | 2013年 8月28日 | |
| 特許 5274550 | デジタル変調信号の試験装置、ならびにデジタル変調器、変調方法およびそれを用いた半導体装置 | 2013年 8月28日 | |
| 特許 5269897 | 試験システムおよび試験用基板ユニット | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5269896 | 試験用ウエハユニット、および、試験システム | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5269701 | 試験装置およびストローブ信号のタイミング調整方法 | 2013年 8月21日 |
256 件中 91-105 件を表示
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5275351 5274654 5274648 5274551 5274543 5274428 5274365 5274281 5274092 5274016 5274660 5274550 5269897 5269896 5269701
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