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株式会社アドバンテスト

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株式会社アドバンテストの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日	備考
特許 5269450	試験システム及びバックアノテーション方法	2013年 8月21日
特許 5255681	測定装置	2013年 8月 7日
特許 5255534	温度検出装置、ハンドラ装置、試験装置	2013年 8月 7日
特許 5255442	確率密度関数分離装置、確率密度関数分離方法、プログラム、試験装置、ビット誤り率測定装置、電子デバイス、および、ジッタ伝達関数測定装置	2013年 8月 7日
特許 5255282	試験装置、試験方法、および、プログラム	2013年 8月 7日
特許 5255248	電源安定化回路、電子デバイス、および、試験装置	2013年 8月 7日
特許 5255710	不良情報記憶装置および試験システム	2013年 8月 7日
特許 5255707	多値ドライバ回路ならびにそれを用いたシングルエンド出力ドライバ回路、差動出力ドライバ回路および試験装置	2013年 8月 7日
特許 5256132	コネクタ、ケーブルアッセンブリ、半導体試験装置、及びコネクタのハウジング	2013年 8月 7日	共同出願
特許 5249390	信号測定装置、信号測定方法、プログラム、記録媒体	2013年 7月31日
特許 5249357	電子デバイス、試験装置および試験方法	2013年 7月31日
特許 5249330	信号出力回路、タイミング発生回路、試験装置、および受信回路	2013年 7月31日
特許 5249123	診断機能を備える装置、診断方法、およびプログラム	2013年 7月31日
特許 5248906	多値ドライバ回路および試験装置	2013年 7月31日
特許 5248898	試験装置及び診断用パフォーマンスボード	2013年 7月31日

256 件中 106-120 件を表示

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5269450 5255681 5255534 5255442 5255282 5255248 5255710 5255707 5256132 5249390 5249357 5249330 5249123 5248906 5248898

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