※ ログインすれば出願人(三星電子株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2012年 出願公開件数ランキング 第84位 516件
(2011年:第57位 657件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第32位 952件
(2011年:第31位 872件)
(ランキング更新日:2025年3月3日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 4958758 | 記録装置、再生装置、記録方法、再生方法及びプログラム | 2012年 6月20日 | |
特許 4956149 | 感光性有機反射防止膜形成用組成物及びそれを用いたパターン形成方法 | 2012年 6月20日 | 共同出願 |
特許 4951218 | 酸化セリウム研磨粒子及び該研磨粒子を含む組成物 | 2012年 6月13日 | |
特許 4953289 | インク組成物、これを含むインクカートリッジ及びインクジェット記録装置 | 2012年 6月13日 | |
特許 4953227 | ゲート駆動部を有する表示装置 | 2012年 6月13日 | |
特許 4950122 | 両方向スライド型移動通信端末機及びそのユーザインターフェース表示方法 | 2012年 6月13日 | |
特許 4949617 | 改善されたレジスター配置構造を有するメモリモジュール | 2012年 6月13日 | |
特許 4953563 | ディスプレーパネル駆動システムの単一サイド駆動装置及びその設計方法 | 2012年 6月13日 | |
特許 4953733 | 光ディスク再生装置及びその方法 | 2012年 6月13日 | |
特許 4950546 | ハードディスクドライブのトラック探索制御方法,それを記録する記録媒体,ハードディスク及びコンピュータ | 2012年 6月13日 | |
特許 4953299 | 共有ピクセル型イメージセンサ | 2012年 6月13日 | |
特許 4951228 | 段差被覆性を向上させた半導体ウェハー及びその製造方法 | 2012年 6月13日 | |
特許 4952990 | シリアルインターフェースを有するシステムの電力消耗を制御する方法及びシステム | 2012年 6月13日 | |
特許 4949517 | 移動通信システムにおけるサービスの加入状態変更方法及びこのための移動通信システム | 2012年 6月13日 | |
特許 4945309 | 脳波測定方法及び脳波測定装置並びに記録媒体 | 2012年 6月 6日 |
952 件中 601-615 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
4958758 4956149 4951218 4953289 4953227 4950122 4949617 4953563 4953733 4950546 4953299 4951228 4952990 4949517 4945309
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。三星電子株式会社の知財の動向チェックに便利です。
3月4日(火) - 東京 港区
3月4日(火) -
3月4日(火) -
3月4日(火) -
3月5日(水) -
3月5日(水) -
3月6日(木) -
3月6日(木) - 東京 品川区
3月6日(木) -
3月6日(木) - 東京 港区
3月6日(木) -
3月7日(金) -
3月7日(金) - 東京 港区
3月7日(金) -
3月7日(金) -
3月4日(火) - 東京 港区
3月10日(月) - 大阪 大阪市
3月11日(火) - 東京 港区
3月11日(火) - 大阪 大阪市
特許制度に詳しい方にこそ知って欲しい意匠権の使い方 ~コスパの高い意匠権を使って事業を守る方法を、特許権と比較して解説~
3月12日(水) - 東京 港区
3月12日(水) -
3月12日(水) - 愛知 名古屋市中区
3月12日(水) -
3月12日(水) -
3月13日(木) - 東京 港区
3月13日(木) -
3月13日(木) -
3月14日(金) -
3月10日(月) - 大阪 大阪市
〒460-0003 愛知県名古屋市中区錦1-11-11 名古屋インターシティ16F 〒104-0061 東京都中央区銀座8-17-5 THE HUB 銀座OCT 407号室(東京支店) 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
神奈川県横浜市港北区日吉本町1-4-5パレスMR201号 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒104-0045 東京都中央区築地1-12-22 コンワビル4F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング