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ルネサスエレクトロニクス株式会社
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第22位 1823件
（
2010年：第46位 839件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第26位 1109件
（2010年：第49位 501件）
（ランキング更新日：2025年2月4日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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ルネサスエレクトロニクス株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4739289 | 半導体集積回路 | 2011年 8月 3日 | |
| 特許 4737886 | 薄膜磁性体記憶装置 | 2011年 8月 3日 | |
| 特許 4740523 | 絶縁ゲート型半導体装置 | 2011年 8月 3日 | |
| 特許 4738675 | 半導体装置 | 2011年 8月 3日 | |
| 特許 4737995 | 半導体装置 | 2011年 8月 3日 | |
| 特許 4739059 | ＤＣ／ＤＣコンバータ用半導体装置 | 2011年 8月 3日 | |
| 特許 4738922 | 過電圧保護回路 | 2011年 8月 3日 | |
| 特許 4737646 | 半導体集積回路装置 | 2011年 8月 3日 | |
| 特許 4737683 | シリアル伝送システム、伝送装置、及びシリアル伝送方法 | 2011年 8月 3日 | |
| 特許 4733856 | 高密度プラズマＣＶＤ装置のリモートプラズマクリーニング方法 | 2011年 7月27日 | |
| 特許 4734187 | 半導体検査装置 | 2011年 7月27日 | |
| 特許 4732182 | 電池電圧監視装置 | 2011年 7月27日 | |
| 特許 4734111 | 多層レジスト膜のパターニング方法および半導体装置の製造方法 | 2011年 7月27日 | |
| 特許 4732024 | ＩＣタグ、リーダ・ライタ、それらを用いた通信方法及び通信システム | 2011年 7月27日 | |
| 特許 4731584 | フラッシュメモリを搭載する記憶装置 | 2011年 7月27日 |
1109 件中 541-555 件を表示
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4739289 4737886 4740523 4738675 4737995 4739059 4738922 4737646 4737683 4733856 4734187 4732182 4734111 4732024 4731584
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