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ルネサスエレクトロニクス株式会社
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第29位 1347件
（
2011年：第22位 1823件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第28位 1067件
（2011年：第26位 1109件）
（ランキング更新日：2025年3月6日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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ルネサスエレクトロニクス株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4875624 | 半導体装置 | 2012年 2月15日 | |
| 特許 4878727 | 半導体集積回路 | 2012年 2月15日 | |
| 特許 4878518 | 半導体装置およびその製造方法 | 2012年 2月15日 | |
| 特許 4878502 | 半導体装置 | 2012年 2月15日 | |
| 特許 4878467 | キュア装置および半導体装置の製造方法 | 2012年 2月15日 | |
| 特許 4878434 | 半導体装置およびその製造方法 | 2012年 2月15日 | |
| 特許 4878201 | 半導体レーザ素子およびその製造方法 | 2012年 2月15日 | |
| 特許 4875380 | 半導体装置 | 2012年 2月15日 | |
| 特許 4874286 | 動きベクトル検出回路 | 2012年 2月15日 | |
| 特許 4874162 | データ展開装置及びデータ展開方法 | 2012年 2月15日 | |
| 特許 4878580 | リードフレームおよびその製造方法、半導体装置およびその製造方法 | 2012年 2月15日 | 共同出願 |
| 特許 4875263 | ダイボンディング方法 | 2012年 2月15日 | 共同出願 |
| 特許 4869631 | 半導体装置 | 2012年 2月 8日 | 共同出願 |
| 特許 4872199 | 半導体製造装置 | 2012年 2月 8日 | |
| 特許 4873779 | フォトマスク、パターン欠陥検査方法、及び半導体装置の製造方法 | 2012年 2月 8日 |
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4875624 4878727 4878518 4878502 4878467 4878434 4878201 4875380 4874286 4874162 4878580 4875263 4869631 4872199 4873779
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