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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第380位 109件 (2011年:第276位 147件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第266位 139件 (2011年:第270位 130件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2012-211842 | 形状測定装置 | 2012年11月 1日 | |
特開 2012-198208 | 落射照明画像用のエッジ位置測定値補正 | 2012年10月18日 | |
特開 2012-189361 | 表面性状測定機 | 2012年10月 4日 | |
特開 2012-173294 | クロマティック共焦点ポイントセンサ光学ペン | 2012年 9月10日 | |
特開 2012-168135 | 画像測定装置、オートフォーカス制御方法及びオートフォーカス制御プログラム | 2012年 9月 6日 | |
特開 2012-168167 | 光電式エンコーダ及びそのアライメント調整方法 | 2012年 9月 6日 | |
特開 2012-168137 | 画像測定装置 | 2012年 9月 6日 | |
特開 2012-168136 | 画像測定装置、オートフォーカス制御方法及びオートフォーカス制御プログラム | 2012年 9月 6日 | |
特開 2012-163427 | 表面性状測定機 | 2012年 8月30日 | |
特開 2012-159549 | オートフォーカス装置 | 2012年 8月23日 | |
特開 2012-154828 | 画像測定装置 | 2012年 8月16日 | |
特開 2012-154931 | 白色光走査干渉法を使用した膜厚測定を行うための方法及び装置 | 2012年 8月16日 | |
特開 2012-151714 | 画像測定装置 | 2012年 8月 9日 | |
特開 2012-150122 | 載物台用送り機構 | 2012年 8月 9日 | |
特開 2012-145422 | 画像プローブの校正方法とタッチプローブ | 2012年 8月 2日 |
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2012-211842 2012-198208 2012-189361 2012-173294 2012-168135 2012-168167 2012-168137 2012-168136 2012-163427 2012-159549 2012-154828 2012-154931 2012-151714 2012-150122 2012-145422
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11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月29日(金) - 東京 港区
12月2日(月) - 滋賀 草津市
新製品開発の「タネ」がみつかる!株式会社リコーによるシーズ発表会 ~リコーの技術(シーズ)やアイデアを使って新製品をつくりませんか?~
12月2日(月) -
12月4日(水) - 東京 千代田区
12月4日(水) - 東京 港区
12月4日(水) -
12月4日(水) - 大阪 大阪市
12月4日(水) -
12月4日(水) -
12月5日(木) - 東京 港区
12月5日(木) -
12月5日(木) -
12月5日(木) - 大阪 大阪市
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12月6日(金) -
12月6日(金) - 愛知 豊橋市花田町
12月6日(金) -
12月2日(月) - 滋賀 草津市
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