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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第295位 133件
(2019年:第245位 178件)
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第272位 103件
(2019年:第241位 114件)
(ランキング更新日:2025年2月21日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2020-204515 | 測定装置 | 2020年12月24日 | |
特開 2020-204528 | 形状測定装置および形状測定装置の調整方法 | 2020年12月24日 | |
特開 2020-204552 | 測定装置 | 2020年12月24日 | |
特開 2020-204999 | 測定システム | 2020年12月24日 | |
特開 2020-201077 | アナログインジケータ読取装置、アナログインジケータ読取方法及びプログラム | 2020年12月17日 | |
特開 2020-201101 | 測定プローブの不具合判定ユニット及びその不具合判定方法 | 2020年12月17日 | |
特開 2020-201200 | 電磁誘導式エンコーダ | 2020年12月17日 | |
特開 2020-201241 | 拡張スペクトル光源を備えたクロマティック共焦点距離センサー装置 | 2020年12月17日 | |
特表 2020-536234 | 複雑な回路の統合用のコンパクトな測定デバイス構成体 | 2020年12月10日 | |
特開 2020-197436 | 形状測定システム | 2020年12月10日 | |
特開 2020-197437 | 形状測定システム | 2020年12月10日 | |
特開 2020-197438 | 形状測定装置 | 2020年12月10日 | |
特開 2020-197451 | 測定装置および測定方法 | 2020年12月10日 | |
特開 2020-197452 | 光学式角度センサ | 2020年12月10日 | |
特開 2020-197503 | 座標測定機、及び座標測定プログラム | 2020年12月10日 |
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2020-204515 2020-204528 2020-204552 2020-204999 2020-201077 2020-201101 2020-201200 2020-201241 2020-536234 2020-197436 2020-197437 2020-197438 2020-197451 2020-197452 2020-197503
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2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
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