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■ 2026年 出願公開件数ランキング 第905位 22件
(
2025年:第554位 50件)
■ 2026年 特許取得件数ランキング 第626位 29件
(
2025年:第539位 44件)
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| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2026-169729 | 画像測定機及びプログラム | 2026年10月20日 | |
| 特開 2026-169728 | 画像測定機及びプログラム | 2026年10月20日 | |
| 特開 2026-159034 | クロマチックポイントセンサ測定装置 | 2026年10月 7日 | |
| 特開 2026-146751 | ラインレーザ測定装置 | 2026年 9月16日 | |
| 特開 2026-132352 | 形状測定システムの測定空間をスキャンする方法、コンピュータ読み取り可能なプログラム及び形状測定システム | 2026年 8月17日 | |
| 特開 2026-123770 | クロマティックレンジセンサ及び衝突保護を備えた計測システム | 2026年 7月30日 | |
| 特開 2026-116682 | 計測システム | 2026年 7月10日 | |
| 特開 2026-113027 | 測定支援プログラム、測定支援装置、および測定支援方法 | 2026年 7月 7日 | |
| 特開 2026-109574 | 高さマップを決定するための方法およびそのための干渉計システム | 2026年 7月 1日 | |
| 特開 2026-106385 | 補助的計測位置決定システムを有するロボットシステム | 2026年 6月29日 | |
| 特開 2026-100783 | ワークの形状測定のための基準位置決めシステム、RPS、位置合わせプログラムを自動的に生成するための方法 | 2026年 6月19日 | |
| 特開 2026-97574 | 測定機器及び接続構造 | 2026年 6月16日 | |
| 特開 2026-94053 | 変位測定器 | 2026年 6月 9日 | |
| 特開 2026-82692 | 試料表面の高さを決定するための方法及び構造化光学顕微鏡 | 2026年 5月19日 | |
| 特開 2026-79036 | 形状測定装置 | 2026年 5月15日 |
22 件中 1-15 件を表示
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2026-169729 2026-169728 2026-159034 2026-146751 2026-132352 2026-123770 2026-116682 2026-113027 2026-109574 2026-106385 2026-100783 2026-97574 2026-94053 2026-82692 2026-79036
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