特許ランキング - 出願人詳細情報 -

株式会社ミツトヨ

※ ログインすれば出願人(株式会社ミツトヨ)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2026年出願公開件数ランキング　　　第966位　20件（2025年：第554位　50件）

　■　2026年特許取得件数ランキング　　　第677位　26件（2025年：第539位　44件）

（ランキング更新日：2026年10月16日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年

株式会社ミツトヨの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2026-159034	クロマチックポイントセンサ測定装置	2026年10月 7日
特開 2026-146751	ラインレーザ測定装置	2026年 9月16日
特開 2026-132352	形状測定システムの測定空間をスキャンする方法、コンピュータ読み取り可能なプログラム及び形状測定システム	2026年 8月17日
特開 2026-123770	クロマティックレンジセンサ及び衝突保護を備えた計測システム	2026年 7月30日
特開 2026-116682	計測システム	2026年 7月10日
特開 2026-113027	測定支援プログラム、測定支援装置、および測定支援方法	2026年 7月 7日
特開 2026-109574	高さマップを決定するための方法およびそのための干渉計システム	2026年 7月 1日
特開 2026-106385	補助的計測位置決定システムを有するロボットシステム	2026年 6月29日
特開 2026-100783	ワークの形状測定のための基準位置決めシステム、ＲＰＳ、位置合わせプログラムを自動的に生成するための方法	2026年 6月19日
特開 2026-97574	測定機器及び接続構造	2026年 6月16日
特開 2026-94053	変位測定器	2026年 6月 9日
特開 2026-82692	試料表面の高さを決定するための方法及び構造化光学顕微鏡	2026年 5月19日
特開 2026-79036	形状測定装置	2026年 5月15日
特開 2026-71946	白色干渉計および干渉光学系の調整方法	2026年 4月30日
特開 2026-58925	補正値演算方法、補正値演算プログラム、補正値演算装置、およびエンコーダ	2026年 4月 6日

20 件中 1-15 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2026-159034 2026-146751 2026-132352 2026-123770 2026-116682 2026-113027 2026-109574 2026-106385 2026-100783 2026-97574 2026-94053 2026-82692 2026-79036 2026-71946 2026-58925

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。の知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数