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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第380位 109件 (2011年:第276位 147件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第266位 139件 (2011年:第270位 130件)
(ランキング更新日:2024年11月22日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2012-255674 | 位置合わせ方法 | 2012年12月27日 | |
特開 2012-247312 | 断面形状測定方法 | 2012年12月13日 | |
特開 2012-247313 | 表面形状測定プローブおよびその校正方法 | 2012年12月13日 | |
特開 2012-242193 | 外側寸法測定機 | 2012年12月10日 | |
特開 2012-237620 | 誤差画像生成方法 | 2012年12月 6日 | |
特開 2012-230026 | 測定器の防塵構造 | 2012年11月22日 | |
特開 2012-230097 | 光学式プローブ | 2012年11月22日 | |
特開 2012-225743 | 表面性状測定機 | 2012年11月15日 | |
特開 2012-225742 | 表面性状測定機 | 2012年11月15日 | |
特開 2012-225701 | 形状測定装置 | 2012年11月15日 | |
特開 2012-225700 | 形状測定装置 | 2012年11月15日 | |
特開 2012-225913 | マシンビジョンシステムにおける潜在的な干渉要素の検査 | 2012年11月15日 | |
特開 2012-218132 | バリ取り装置 | 2012年11月12日 | |
特開 2012-211891 | 表面性状測定機の校正方法 | 2012年11月 1日 | |
特開 2012-212009 | 光学装置、及び光学式測定装置 | 2012年11月 1日 |
109 件中 1-15 件を表示
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2012-255674 2012-247312 2012-247313 2012-242193 2012-237620 2012-230026 2012-230097 2012-225743 2012-225742 2012-225701 2012-225700 2012-225913 2012-218132 2012-211891 2012-212009
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11月22日(金) -
11月22日(金) - 東京 千代田区
11月22日(金) - 東京 港区
11月22日(金) -
11月22日(金) - 大阪 大阪市
11月22日(金) -
11月22日(金) -
11月25日(月) -
11月25日(月) - 岐阜 各務原市
11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
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