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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第380位 109件
(2011年:第276位 147件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第266位 139件
(2011年:第270位 130件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2012-255674 | 位置合わせ方法 | 2012年12月27日 | |
特開 2012-247312 | 断面形状測定方法 | 2012年12月13日 | |
特開 2012-247313 | 表面形状測定プローブおよびその校正方法 | 2012年12月13日 | |
特開 2012-242193 | 外側寸法測定機 | 2012年12月10日 | |
特開 2012-237620 | 誤差画像生成方法 | 2012年12月 6日 | |
特開 2012-230026 | 測定器の防塵構造 | 2012年11月22日 | |
特開 2012-230097 | 光学式プローブ | 2012年11月22日 | |
特開 2012-225743 | 表面性状測定機 | 2012年11月15日 | |
特開 2012-225742 | 表面性状測定機 | 2012年11月15日 | |
特開 2012-225701 | 形状測定装置 | 2012年11月15日 | |
特開 2012-225700 | 形状測定装置 | 2012年11月15日 | |
特開 2012-225913 | マシンビジョンシステムにおける潜在的な干渉要素の検査 | 2012年11月15日 | |
特開 2012-218132 | バリ取り装置 | 2012年11月12日 | |
特開 2012-211891 | 表面性状測定機の校正方法 | 2012年11月 1日 | |
特開 2012-212009 | 光学装置、及び光学式測定装置 | 2012年11月 1日 |
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2012-255674 2012-247312 2012-247313 2012-242193 2012-237620 2012-230026 2012-230097 2012-225743 2012-225742 2012-225701 2012-225700 2012-225913 2012-218132 2012-211891 2012-212009
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