※ ログインすれば出願人(株式会社ミツトヨ)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2012年 出願公開件数ランキング 第380位 109件 (2011年:第276位 147件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第266位 139件 (2011年:第270位 130件)
(ランキング更新日:2024年11月22日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2012-108074 | 電磁誘導式エンコーダ | 2012年 6月 7日 | |
特開 2012-108067 | 厚み測定方法 | 2012年 6月 7日 | |
特開 2012-93345 | 座標測定用ヘッドユニット及び座標測定機 | 2012年 5月17日 | |
特開 2012-93166 | 干渉対物レンズユニット及び当該干渉対物レンズユニットを備えた光干渉測定装置 | 2012年 5月17日 | |
特開 2012-93159 | 光電式エンコーダ | 2012年 5月17日 | |
特開 2012-93121 | 硬さ試験方法及びプログラム | 2012年 5月17日 | |
特開 2012-93105 | レーザ光の光軸方向の測定方法、長さ測定システム、および位置決め精度の検査方法 | 2012年 5月17日 | |
特開 2012-88149 | 表面性状測定機の直角度誤差算出方法および校正用治具 | 2012年 5月10日 | |
特開 2012-88162 | 画像測定装置及びその駆動制御方法 | 2012年 5月10日 | |
特開 2012-88261 | 画像測定装置 | 2012年 5月10日 | |
特開 2012-88274 | 変位測定装置 | 2012年 5月10日 | |
特開 2012-88180 | 干渉対物レンズ装置及び光干渉測定装置 | 2012年 5月10日 | |
特開 2012-83153 | エンコーダ | 2012年 4月26日 | |
特開 2012-83192 | 三次元測定機の校正方法および校正治具 | 2012年 4月26日 | |
特開 2012-83228 | 原点位置検出回路 | 2012年 4月26日 |
109 件中 46-60 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2012-108074 2012-108067 2012-93345 2012-93166 2012-93159 2012-93121 2012-93105 2012-88149 2012-88162 2012-88261 2012-88274 2012-88180 2012-83153 2012-83192 2012-83228
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社ミツトヨの知財の動向チェックに便利です。
11月22日(金) -
11月22日(金) - 東京 千代田区
11月22日(金) - 東京 港区
11月22日(金) -
11月22日(金) - 大阪 大阪市
11月22日(金) -
11月22日(金) -
11月25日(月) -
11月25日(月) - 岐阜 各務原市
11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
〒140-0002 東京都品川区東品川2丁目2番24号 天王洲セントラルタワー21F・22F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
埼玉県戸田市上戸田3-13-13 ガレージプラザ戸田公園A-2 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒104-0045 東京都中央区築地1-12-22 コンワビル4F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング