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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第276位 147件 (2010年:第319位 142件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第270位 130件 (2010年:第330位 94件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2011-102719 | 画像測定機 | 2011年 5月26日 | |
特開 2011-99861 | 位置感知光検出器を使用する線形変位センサ | 2011年 5月19日 | |
特開 2011-99787 | 形状測定装置及び形状測定方法 | 2011年 5月19日 | |
特開 2011-99768 | 重心測定システムおよび重心測定方法 | 2011年 5月19日 | |
特開 2011-100812 | レーザ光源装置、及びレーザ光源の調整システム | 2011年 5月19日 | |
特開 2011-95263 | 正確な寸法検査用の自動焦点ビデオツールおよび方法 | 2011年 5月12日 | |
特開 2011-89988 | 物体表面の高さマップを求める方法及びその装置 | 2011年 5月 6日 | |
特開 2011-89897 | 形状測定装置及び形状データの位置合わせ方法 | 2011年 5月 6日 | |
特開 2011-89830 | 測定力制御装置 | 2011年 5月 6日 | |
特開 2011-85404 | 検出器、及び測定機 | 2011年 4月28日 | |
特開 2011-85403 | オフセット量校正方法および表面性状測定機 | 2011年 4月28日 | |
特開 2011-85402 | 表面性状測定機 | 2011年 4月28日 | |
特開 2011-85401 | 表面性状測定機および表面性状測定方法 | 2011年 4月28日 | |
特開 2011-85400 | 表面性状測定機 | 2011年 4月28日 | |
特開 2011-85399 | オフセット量校正方法および表面性状測定機 | 2011年 4月28日 |
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2011-102719 2011-99861 2011-99787 2011-99768 2011-100812 2011-95263 2011-89988 2011-89897 2011-89830 2011-85404 2011-85403 2011-85402 2011-85401 2011-85400 2011-85399
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11月25日(月) -
11月25日(月) - 岐阜 各務原市
11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
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