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富士通セミコンダクター株式会社
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第103位 453件
（
2011年：第93位 464件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第59位 620件
（2011年：第53位 577件）
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富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5040676 | 半導体記憶装置 | 2012年10月 3日 | |
| 特許 5034379 | 半導体メモリおよびシステム | 2012年 9月26日 | |
| 特許 5034551 | メモリコントローラ、半導体メモリのアクセス制御方法およびシステム | 2012年 9月26日 | |
| 特許 5034806 | 図形描画装置、図形描画方法、図形描画プログラム、および該プログラムを記録した記録媒体 | 2012年 9月26日 | |
| 特許 5035348 | 半導体メモリ | 2012年 9月26日 | |
| 特許 5034262 | 研磨装置および研磨方法 | 2012年 9月26日 | |
| 特許 5034834 | 半導体装置、および半導体装置における制御方法 | 2012年 9月26日 | |
| 特許 5034133 | 半導体記憶装置 | 2012年 9月26日 | |
| 特許 5034139 | 電圧発生回路および半導体記憶装置 | 2012年 9月26日 | |
| 特許 5034945 | 半導体装置及びその製造方法 | 2012年 9月26日 | |
| 特許 5035336 | 半導体装置の製造方法 | 2012年 9月26日 | |
| 特許 5035345 | イオン注入装置、基板クランプ機構、及びイオン注入方法 | 2012年 9月26日 | |
| 特許 5034332 | 半導体装置の製造方法 | 2012年 9月26日 | |
| 特許 5034307 | 半導体ウエハの検査システム及び検査方法 | 2012年 9月26日 | |
| 特許 5034451 | 電流モードＤＣ−ＤＣコンバータ制御回路および電流モードＤＣ−ＤＣコンバータの制御方法 | 2012年 9月26日 |
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5040676 5034379 5034551 5034806 5035348 5034262 5034834 5034133 5034139 5034945 5035336 5035345 5034332 5034307 5034451
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