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富士通セミコンダクター株式会社
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第144位 349件
（
2012年：第103位 453件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第64位 612件
（2012年：第59位 620件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5286944 | 受信装置及びパケット通信方法 | 2013年 9月11日 | |
| 特許 5287178 | 欠陥レビュー装置 | 2013年 9月11日 | |
| 特許 5287185 | 昇降圧電源制御装置および昇降圧電源の制御方法 | 2013年 9月11日 | |
| 特許 5287708 | 半導体装置及びその製造方法 | 2013年 9月11日 | |
| 特許 5287621 | 半導体装置 | 2013年 9月11日 | |
| 特許 5283830 | 欠陥検査方法 | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5282511 | 光近接効果補正パターンの検証方法及びその検証装置 | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5283827 | 半導体装置の製造方法 | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5282571 | 半導体装置の製造方法 | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5282387 | 半導体装置の製造方法 | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5278320 | 半導体装置及びその製造方法 | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5278132 | 半導体装置の製造方法 | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5278022 | 半導体装置の製造方法 | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5282723 | 補正ユニットを有するシステム及びその補正方法 | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5282560 | 半導体装置及びシステム | 2013年 9月 4日 |
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5286944 5287178 5287185 5287708 5287621 5283830 5282511 5283827 5282571 5282387 5278320 5278132 5278022 5282723 5282560
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