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富士通セミコンダクター株式会社
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第144位 349件
（
2012年：第103位 453件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第64位 612件
（2012年：第59位 620件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5187359 | 半導体装置及びその製造方法 | 2013年 4月24日 | |
| 特許 5187322 | 半導体チップ及びその試験方法 | 2013年 4月24日 | |
| 特許 5186741 | 回路基板及び半導体装置 | 2013年 4月24日 | |
| 特許 5186701 | 半導体装置の製造方法 | 2013年 4月24日 | |
| 特許 5189759 | 検査方法および検査装置 | 2013年 4月24日 | 共同出願 |
| 特許 5185478 | パイプライン処理方法並びにその方法を利用するパイプライン処理装置 | 2013年 4月17日 | |
| 特許 5182416 | 半導体メモリおよび半導体メモリの動作方法 | 2013年 4月17日 | |
| 特許 5186664 | 不揮発性半導体記憶装置の製造方法 | 2013年 4月17日 | |
| 特許 5182252 | 半導体装置及びその製造方法 | 2013年 4月17日 | |
| 特許 5182351 | アナログデジタル変換器 | 2013年 4月17日 | |
| 特許 5182291 | 半導体装置 | 2013年 4月17日 | |
| 特許 5181512 | 電子デバイスの製造方法 | 2013年 4月10日 | |
| 特許 5182079 | 半導体装置及び電子機器 | 2013年 4月10日 | |
| 特許 5182011 | 半導体装置及び半導体装置の試験方法 | 2013年 4月10日 | |
| 特許 5181638 | 半導体集積回路設計方法 | 2013年 4月10日 |
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5187359 5187322 5186741 5186701 5189759 5185478 5182416 5186664 5182252 5182351 5182291 5181512 5182079 5182011 5181638
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