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富士通セミコンダクター株式会社
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第144位 349件
（
2012年：第103位 453件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第64位 612件
（2012年：第59位 620件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5181698 | 半導体メモリおよび半導体メモリの製造方法 | 2013年 4月10日 | |
| 特許 5181484 | 歩留まり監視システム及び歩留まり監視方法 | 2013年 4月10日 | |
| 特許 5179692 | 半導体記憶装置及びその製造方法 | 2013年 4月10日 | 共同出願 |
| 特許 5176876 | シミュレーション方法、シミュレーション装置、及びシミュレーションプログラム | 2013年 4月 3日 | |
| 特許 5176646 | 誤り訂正機能確認回路及び誤り訂正機能確認方法とそのコンピュータプログラム、並びに記憶装置 | 2013年 4月 3日 | |
| 特許 5176902 | 電子デバイスの製造方法及び設定装置 | 2013年 4月 3日 | |
| 特許 5176538 | 半導体装置のセルレイアウト方法 | 2013年 4月 3日 | |
| 特許 5176428 | 酸窒化処理装置及び方法、並びに半導体装置の製造方法 | 2013年 4月 3日 | |
| 特許 5169838 | 半導体装置の製造方法 | 2013年 3月27日 | |
| 特許 5170086 | リーク電流検出回路、ボディバイアス制御回路、半導体装置及び半導体装置の試験方法 | 2013年 3月27日 | |
| 特許 5169597 | 集積回路および試験方法 | 2013年 3月27日 | |
| 特許 5169575 | フォトマスクパターンの作成方法 | 2013年 3月27日 | |
| 特許 5169731 | マルチプロセッサシステムＬＳＩ | 2013年 3月27日 | |
| 特許 5169773 | 半導体メモリ、半導体メモリの動作方法およびシステム | 2013年 3月27日 | |
| 特許 5172069 | 半導体装置 | 2013年 3月27日 |
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5181698 5181484 5179692 5176876 5176646 5176902 5176538 5176428 5169838 5170086 5169597 5169575 5169731 5169773 5172069
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