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富士通セミコンダクター株式会社
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第144位 349件
（
2012年：第103位 453件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第64位 612件
（2012年：第59位 620件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5343359 | 半導体装置の製造方法 | 2013年11月13日 | |
| 特許 5340721 | 電源装置 | 2013年11月13日 | |
| 特許 5338042 | 電界効果トランジスタの製造方法 | 2013年11月13日 | |
| 特許 5338150 | 半導体装置の製造方法 | 2013年11月13日 | |
| 特許 5343417 | 半導体装置およびその製造方法 | 2013年11月13日 | |
| 特許 5343324 | 基板構造及びその製造方法 | 2013年11月13日 | |
| 特許 5338937 | メモリ装置 | 2013年11月13日 | |
| 特許 5332442 | 半導体装置の製造方法及び半導体装置 | 2013年11月 6日 | |
| 特許 5333207 | 拡散係数の算定方法 | 2013年11月 6日 | |
| 特許 5333190 | 半導体装置の製造方法 | 2013年11月 6日 | |
| 特許 5332675 | 電子機器及び検出回路 | 2013年11月 6日 | |
| 特許 5333150 | 静電解析方法及び静電解析装置 | 2013年11月 6日 | |
| 特許 5333483 | 半導体ウェーハ、及びその製造方法 | 2013年11月 6日 | |
| 特許 5333572 | 半導体素子の実装方法及び半導体装置の製造方法 | 2013年11月 6日 | |
| 特許 5333337 | 半導体装置の製造方法 | 2013年11月 6日 |
612 件中 76-90 件を表示
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5343359 5340721 5338042 5338150 5343417 5343324 5338937 5332442 5333207 5333190 5332675 5333150 5333483 5333572 5333337
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