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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第328位 132件 (2012年:第270位 155件)
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第233位 174件 (2012年:第225位 172件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2013-150113 | 信号発生装置、情報処理装置、及び信号調整方法 | 2013年 8月 1日 | |
特開 2013-142638 | 電池残量測定システム、電池残量測定プログラム、及び電池残量測定方法 | 2013年 7月22日 | |
特開 2013-141113 | 電圧比較回路 | 2013年 7月18日 | |
再表 2011-115142 | 画像処理装置、方法、プログラム及び記録媒体 | 2013年 6月27日 | |
特開 2013-126082 | エコーキャンセラ装置及びエコーキャンセル方法 | 2013年 6月24日 | |
特開 2013-125303 | 半導体メモリ制御装置及び制御方法 | 2013年 6月24日 | |
特開 2013-123105 | 周波数オフセット除去回路及び方法並びに通信機器 | 2013年 6月20日 | |
特開 2013-123164 | CR発振回路及び半導体集積装置 | 2013年 6月20日 | |
特開 2013-122642 | 電源装置、電源装置の制御方法及び電子機器 | 2013年 6月20日 | |
特開 2013-117534 | 重力軸判定方法 | 2013年 6月13日 | |
特開 2013-117785 | 時間測定装置、マイクロコントローラ、プログラム、及び時間測定方法 | 2013年 6月13日 | |
特開 2013-109590 | 画像処理装置、画像処理システム、画像処理方法、及びプログラム | 2013年 6月 6日 | |
特開 2013-110308 | 半導体装置 | 2013年 6月 6日 | |
特開 2013-104736 | 温度検出回路及びその調整方法 | 2013年 5月30日 | |
特開 2013-98918 | 信号処理装置、半導体装置及び映像表示装置 | 2013年 5月20日 |
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2013-150113 2013-142638 2013-141113 2011-115142 2013-126082 2013-125303 2013-123105 2013-123164 2013-122642 2013-117534 2013-117785 2013-109590 2013-110308 2013-104736 2013-98918
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11月25日(月) -
11月25日(月) - 岐阜 各務原市
11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
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