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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第387位 111件 (2016年:第336位 113件)
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第366位 75件 (2016年:第282位 116件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2017-228337 | 電圧供給回路及び半導体記憶装置 | 2017年12月28日 | |
特開 2017-223928 | 表示ドライバ及び半導体装置 | 2017年12月21日 | |
特開 2017-224794 | 半導体装置および半導体装置の製造方法 | 2017年12月21日 | |
特開 2017-224900 | 半導体装置、通信システムおよび半導体装置の製造方法。 | 2017年12月21日 | |
再表 2016-140354 | 電位制御装置、電位制御方法、計測装置及び計測方法 | 2017年12月14日 | |
特開 2017-215368 | ドライバ回路及びドライバ回路の動作不良検出方法 | 2017年12月 7日 | |
特開 2017-215638 | 定電流回路及び半導体装置 | 2017年12月 7日 | |
特開 2017-211897 | 基準電圧生成回路及び半導体装置 | 2017年11月30日 | |
特開 2017-212345 | 半導体製造装置、及び半導体製造方法 | 2017年11月30日 | |
特開 2017-212367 | 半導体装置の製造方法、及び半導体装置 | 2017年11月30日 | |
特開 2017-212624 | 周波数変換回路、通信装置及び半導体装置 | 2017年11月30日 | |
特開 2017-212877 | 電池監視システム及び電池監視装置 | 2017年11月30日 | |
特開 2017-207452 | 半導体装置、電池監視システムおよび診断方法 | 2017年11月24日 | |
特開 2017-207453 | 半導体装置、電池監視システムおよび診断方法 | 2017年11月24日 | |
特開 2017-208487 | 半導体装置、及び半導体装置の製造方法 | 2017年11月24日 |
114 件中 1-15 件を表示
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2017-228337 2017-223928 2017-224794 2017-224900 2016-140354 2017-215368 2017-215638 2017-211897 2017-212345 2017-212367 2017-212624 2017-212877 2017-207452 2017-207453 2017-208487
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2月4日(火) - 東京 港区
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2月5日(水) -
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2月7日(金) -
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