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株式会社日本マイクロニクス

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　■　2011年出願公開件数ランキング　　　第664位　50件（2010年：第614位　62件）

　■　2011年特許取得件数ランキング　　　第842位　33件（2010年：第664位　38件）

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株式会社日本マイクロニクスの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2011-175298	液晶パネル点灯検査装置	2011年 9月 8日
特開 2011-149917	プローブ清掃ユニット及びそれを備えたパネル検査装置並びにプローブ清掃方法	2011年 8月 4日
特開 2011-145279	プローブカード及び検査装置	2011年 7月28日
特開 2011-145200	電気的試験用プローブ及びその製造方法、並びに電気的接続装置及びその製造方法	2011年 7月28日
特開 2011-141219	電気的試験用プローブ、その製造方法、電気的接続装置及びその製造方法	2011年 7月21日
特開 2011-138865	半導体デバイスの検査装置	2011年 7月14日
特開 2011-133462	プローブ装置	2011年 7月 7日
特開 2011-135697	故障予知装置及び故障予知方法並びに検査装置	2011年 7月 7日
特開 2011-122942	プローブ装置	2011年 6月23日
特開 2011-117936	平板状被検査体の試験装置	2011年 6月16日
特開 2011-117758	電気的試験用プローブ及びこれを用いた電気的接続装置	2011年 6月16日
特開 2011-112491	プローブ装置	2011年 6月 9日
特開 2011-107023	電気的試験用プローブ、それを用いた電気的接続装置、及びプローブの製造方法	2011年 6月 2日
特開 2011-99698	プローブ針ガイド部材及びこれを備えたプローブカード並びにそれを用いる半導体装置の試験方法	2011年 5月19日
特開 2011-89954	導電性シート及び導電性シートの製造方法並びにプローブカード及び検査装置	2011年 5月 6日

50 件中 16-30 件を表示

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2011-175298 2011-149917 2011-145279 2011-145200 2011-141219 2011-138865 2011-133462 2011-135697 2011-122942 2011-117936 2011-117758 2011-112491 2011-107023 2011-99698 2011-89954

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