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株式会社日本マイクロニクス
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第742位 45件
（
2012年：第832位 36件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第591位 57件
（2012年：第730位 43件）
（ランキング更新日：2025年1月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日本マイクロニクスの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5291585 | 接触子及び電気的接続装置 | 2013年 9月18日 | |
| 特許 5294954 | プローブカードの製造方法 | 2013年 9月18日 | |
| 特許 5291665 | パネル処理システム及びパネル処理方法 | 2013年 9月18日 | |
| 特許 5294982 | 電気的接続装置 | 2013年 9月18日 | |
| 特許 5289224 | 検査装置 | 2013年 9月11日 | |
| 特許 5276774 | 検査方法及び装置 | 2013年 8月28日 | |
| 特許 5269482 | センサ基板及び検査装置 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5269328 | インライン自動検査装置及びインライン自動検査システム | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5258590 | 集積回路の試験装置 | 2013年 8月 7日 | |
| 特許 5258395 | プロービング装置 | 2013年 8月 7日 | |
| 特許 5258547 | 集積回路の検査方法及び装置 | 2013年 8月 7日 | |
| 特許 5239716 | ＬＥＤの試験装置 | 2013年 7月17日 | |
| 特許 5236556 | アライメント機能を有する半導体検査装置とアライメント方法 | 2013年 7月17日 | |
| 特許 5235163 | 検査装置 | 2013年 7月10日 | |
| 特許 5232593 | 電気的接続装置 | 2013年 7月10日 |
57 件中 16-30 件を表示
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5291585 5294954 5291665 5294982 5289224 5276774 5269482 5269328 5258590 5258395 5258547 5239716 5236556 5235163 5232593
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