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株式会社日本マイクロニクス
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第916位 31件
（
2013年：第742位 45件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第644位 49件
（2013年：第591位 57件）
（ランキング更新日：2024年11月29日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日本マイクロニクスの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5548339 | 電気的接続装置 | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5539033 | 半導体測定装置及び測定方法 | 2014年 7月 2日 | |
| 特許 5530191 | 電気的試験用プローブ及びその製造方法、並びに電気的接続装置及びその製造方法 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5530261 | 被検査体の通電試験方法 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5530124 | 集積回路の試験装置 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5530122 | 光センサの試験装置 | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5525981 | 検査装置及び検査方法 | 2014年 6月18日 | |
| 特許 5515024 | チップ積層デバイス検査方法及びチップ積層デバイス再配列ユニット並びにチップ積層デバイス用検査装置 | 2014年 6月11日 | |
| 特許 5504310 | 電気的接続装置に用いる接触子の使用方法 | 2014年 5月28日 | |
| 特許 5499295 | ディスプレイパネルの検査方法および検査装置 | 2014年 5月21日 | |
| 特許 5499303 | プローブカードの配線基板調整治具及び配線基板修正方法並びに配線基板調整治具を用いて調整されたプローブカードを用いた検査方法及び検査システム | 2014年 5月21日 | |
| 特許 5489356 | 半導体測定装置 | 2014年 5月14日 | |
| 特許 5491789 | プローブ装置 | 2014年 5月14日 | |
| 特許 5491790 | プローブ装置 | 2014年 5月14日 | |
| 特許 5492230 | 検査装置 | 2014年 5月14日 |
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5548339 5539033 5530191 5530261 5530124 5530122 5525981 5515024 5504310 5499295 5499303 5489356 5491789 5491790 5492230
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