東芝メモリ株式会社
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■ 2021年 出願公開件数ランキング 第59位 611件
（
2020年：第62位 598件）
■ 2021年 特許取得件数ランキング 第324位 83件
（
2020年：第253位 111件）
（ランキング更新日：2025年1月31日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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東芝メモリ株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6847796 | メモリシステム | 2021年 3月24日 | |
| 特許 6847797 | 半導体記憶装置 | 2021年 3月24日 | |
| 特許 6842386 | 半導体装置 | 2021年 3月17日 | |
| 特許 6842391 | 半導体製造装置および半導体装置の製造方法 | 2021年 3月17日 | |
| 特許 6840591 | 復号装置 | 2021年 3月10日 | |
| 特許 6836615 | 半導体装置および半導体装置の製造方法 | 2021年 3月 3日 | |
| 特許 6832764 | 半導体記憶装置及びその製造方法 | 2021年 2月24日 | |
| 特許 6832817 | 記憶装置 | 2021年 2月24日 | |
| 特許 6832818 | 磁気記憶装置 | 2021年 2月24日 | |
| 特許 6833086 | システム | 2021年 2月24日 | |
| 特許 6829125 | 半導体記憶装置 | 2021年 2月10日 | |
| 特許 6829171 | 反射型露光マスクおよびパターン形成方法 | 2021年 2月10日 | |
| 特許 6829172 | 半導体記憶装置 | 2021年 2月10日 | |
| 特許 6815961 | 質量分析装置および質量分析方法 | 2021年 1月20日 | |
| 特許 6816083 | 半導体装置の製造方法 | 2021年 1月20日 |
83 件中 61-75 件を表示
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6847796 6847797 6842386 6842391 6840591 6836615 6832764 6832817 6832818 6833086 6829125 6829171 6829172 6815961 6816083
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