※ ログインすれば出願人(株式会社島津製作所)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2016年 出願公開件数ランキング 第109位 389件
(
2015年:第83位 507件)
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第81位 373件
(
2015年:第111位 267件)
(ランキング更新日:2025年11月7日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5962036 | 磁気検知システム | 2016年 8月 3日 | |
| 特許 5962286 | 硬さ試験機 | 2016年 8月 3日 | |
| 特許 5962287 | 硬さ試験機 | 2016年 8月 3日 | |
| 特許 5962317 | 回折格子及び光パルス圧縮器 | 2016年 8月 3日 | |
| 特許 5962555 | 透視撮影装置 | 2016年 8月 3日 | |
| 特許 5962577 | ガスクロマトグラフ | 2016年 8月 3日 | |
| 特許 5962775 | クロマトグラフ質量分析用データ処理装置 | 2016年 8月 3日 | |
| 特許 5962845 | クロマトグラムデータ処理装置及び処理方法 | 2016年 8月 3日 | |
| 特許 5962854 | 電子捕獲検出器 | 2016年 8月 3日 | |
| 特許 5962855 | 蛍光X線分析装置 | 2016年 8月 3日 | |
| 特許 5964760 | 超音波疲労試験機および超音波疲労試験機用ホーン | 2016年 8月 3日 | |
| 特許 5958392 | 時系列計測信号のノイズ低減装置 | 2016年 8月 2日 | |
| 特許 5958642 | 原子間力顕微鏡を用いた表面電荷密度測定装置 | 2016年 8月 2日 | |
| 特許 5958702 | ガス濃度測定装置 | 2016年 8月 2日 | |
| 特許 5958288 | 液体クロマトグラフィー−MALDI質量分析法 | 2016年 7月27日 |
378 件中 166-180 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
5962036 5962286 5962287 5962317 5962555 5962577 5962775 5962845 5962854 5962855 5964760 5958392 5958642 5958702 5958288
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社島津製作所の知財の動向チェックに便利です。
11月10日(月) - 東京 品川区
11月11日(火) - 大阪 大阪市
11月11日(火) - 東京 港区
11月11日(火) -
11月12日(水) - 東京 港区
11月12日(水) -
11月12日(水) -
11月12日(水) -
11月13日(木) -
11月13日(木) -
11月13日(木) -
11月13日(木) -
11月14日(金) -
11月14日(金) - 東京 千代田区
11月14日(金) - 東京 品川区
11月14日(金) - 東京 町田市
11月14日(金) - 大阪 大阪市
11月14日(金) -
11月14日(金) -
11月14日(金) -
11月14日(金) -
11月15日(土) - 神奈川 横浜市
11月10日(月) - 東京 品川区
11月17日(月) -
11月18日(火) - 大阪 大阪市
11月18日(火) -
11月19日(水) -
11月19日(水) - 沖縄 那覇市
11月19日(水) -
11月19日(水) - 東京 港区
11月19日(水) -
11月19日(水) -
11月19日(水) -
11月20日(木) - 東京 港区
11月20日(木) - 東京 千代田区
11月20日(木) -
11月21日(金) - 東京 千代田区
11月21日(金) -
11月21日(金) -
11月21日(金) -
11月17日(月) -
〒460-0008 愛知県名古屋市中区栄一丁目23番29号 伏見ポイントビル3F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国商標 鑑定 コンサルティング
〒140-0002 東京都品川区東品川2丁目2番24号 天王洲セントラルタワー21F・22F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒220-0004 横浜市西区北幸1-5-10 JPR横浜ビル8階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング