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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第544位 52件 (2023年:第725位 39件)
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第428位 66件 (2023年:第279位 119件)
(ランキング更新日:2025年1月7日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2024-179070 | 照明装置及び測定装置 | 2024年12月26日 | |
特開 2024-177732 | メモリモジュールおよび形状測定機 | 2024年12月24日 | |
特開 2024-174713 | スケール、エンコーダ、およびスケールの製造方法 | 2024年12月17日 | |
特開 2024-172425 | 表示パネルモジュールユニット | 2024年12月12日 | |
特開 2024-173237 | 表面欠陥の光学的検査方法及び装置 | 2024年12月12日 | |
特開 2024-169380 | ワークピースのアパーチャを照明及び測定するように構成された計測システム | 2024年12月 5日 | |
特開 2024-157139 | 校正用データの取得方法、測定値の補正方法、および表面性状測定機 | 2024年11月 7日 | |
特開 2024-152529 | 自動測定システムおよび自動測定システムの制御方法 | 2024年10月25日 | |
特開 2024-152665 | 自動測定システムおよび自動測定システムの制御方法 | 2024年10月25日 | |
特開 2024-148814 | 計測装置及びアブソリュート角度特定方法 | 2024年10月18日 | |
特開 2024-146265 | 検出器検知装置および測定機 | 2024年10月15日 | |
特開 2024-142967 | 測定装置 | 2024年10月11日 | |
特開 2024-141250 | 変位測定器 | 2024年10月10日 | |
特開 2024-125735 | 計測装置及び計測方法 | 2024年 9月19日 | |
特開 2024-125793 | 三次元測定機およびインライン測定システム | 2024年 9月19日 |
52 件中 1-15 件を表示
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2024-179070 2024-177732 2024-174713 2024-172425 2024-173237 2024-169380 2024-157139 2024-152529 2024-152665 2024-148814 2024-146265 2024-142967 2024-141250 2024-125735 2024-125793
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1月15日(水) - 東京 千代田区
1月15日(水) -
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1月17日(金) -
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