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■ 2021年 出願公開件数ランキング 第287位 133件
(2020年:第295位 133件)
■ 2021年 特許取得件数ランキング 第276位 103件
(2020年:第272位 103件)
(ランキング更新日:2025年6月10日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2021-39238 | 光学装置、およびレンズ装置の認識方法 | 2021年 3月11日 | |
特開 2021-39262 | 位置決め装置、及び露光装置 | 2021年 3月11日 | |
特開 2021-39484 | 測定機器管理システム | 2021年 3月11日 | |
特開 2021-39695 | 作業記録システムおよび作業対象箇所特定方法 | 2021年 3月11日 | |
特開 2021-32722 | 検査方法、補正方法、および検査装置 | 2021年 3月 1日 | |
特開 2021-32730 | 測定装置および測定方法 | 2021年 3月 1日 | |
特開 2021-32836 | 一次元測定機 | 2021年 3月 1日 | |
特開 2021-34464 | レーザ装置及びレーザ安定化方法 | 2021年 3月 1日 | |
特開 2021-34682 | パルス照明回路基板 | 2021年 3月 1日 | |
特開 2021-24048 | 固定用冶具 | 2021年 2月22日 | |
特開 2021-25978 | 形状測定装置 | 2021年 2月22日 | |
特開 2021-25979 | 形状測定装置の制御方法 | 2021年 2月22日 | |
特開 2021-21587 | 光学式測定装置 | 2021年 2月18日 | |
特開 2021-21588 | 光学式測定装置 | 2021年 2月18日 | |
特開 2021-21650 | 表面性状測定装置のパラメータ校正方法 | 2021年 2月18日 |
135 件中 106-120 件を表示
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2021-39238 2021-39262 2021-39484 2021-39695 2021-32722 2021-32730 2021-32836 2021-34464 2021-34682 2021-24048 2021-25978 2021-25979 2021-21587 2021-21588 2021-21650
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