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■ 2025年 出願公開件数ランキング 第2787位 2件
(2024年:第13071位 1件)
■ 2025年 特許取得件数ランキング 第975位 6件
(2024年:第1001位 22件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 7647984 | 検査治具、及び検査装置 | 2025年 3月18日 | |
特許 7632452 | クランプ式交流電圧プローブ | 2025年 2月19日 | |
特許 7619281 | 接触子、検査治具、検査装置、及び接触子の製造方法 | 2025年 1月22日 | |
特許 7615558 | 検査治具、及び検査装置 | 2025年 1月17日 | |
特許 7616072 | 検査装置 | 2025年 1月17日 | |
特許 7613383 | 半導体測定装置、半導体測定システム、及び半導体測定方法 | 2025年 1月15日 | |
特許 7613663 | 回路特性測定システム、及び回路特性測定方法 | 2025年 1月15日 |
7 件中 1-7 件を表示
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7647984 7632452 7619281 7615558 7616072 7613383 7613663
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4月16日(水) - 東京 大田
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4月18日(金) -
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4月16日(水) - 東京 大田
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4月22日(火) -
4月22日(火) -
4月23日(水) -
4月23日(水) -
4月23日(水) -
4月23日(水) -
4月23日(水) - 東京 千代田区
4月23日(水) -
4月23日(水) -
4月23日(水) -
4月24日(木) - 東京 港区
4月24日(木) -
4月24日(木) -
4月25日(金) -
4月21日(月) -
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