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■ 2025年 出願公開件数ランキング 第5348位 2件
(2024年:第13071位 1件)
■ 2025年 特許取得件数ランキング 第1487位 8件
(2024年:第1001位 22件)
(ランキング更新日:2025年8月25日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 7721868 | 基板検査装置 | 2025年 8月13日 | |
特許 7715322 | 自動欠陥分類検査装置を訓練する方法及びシステム | 2025年 7月30日 | |
特許 7704360 | 検査装置、及び検査方法 | 2025年 7月 8日 | |
特許 7647984 | 検査治具、及び検査装置 | 2025年 3月18日 | |
特許 7632452 | クランプ式交流電圧プローブ | 2025年 2月19日 | |
特許 7619281 | 接触子、検査治具、検査装置、及び接触子の製造方法 | 2025年 1月22日 | |
特許 7615558 | 検査治具、及び検査装置 | 2025年 1月17日 | |
特許 7616072 | 検査装置 | 2025年 1月17日 | |
特許 7613383 | 半導体測定装置、半導体測定システム、及び半導体測定方法 | 2025年 1月15日 | |
特許 7613663 | 回路特性測定システム、及び回路特性測定方法 | 2025年 1月15日 |
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7721868 7715322 7704360 7647984 7632452 7619281 7615558 7616072 7613383 7613663
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