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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第963位 32件
(2012年:第2159位 10件)
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第1984位 11件
(2012年:第1040位 27件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5375516 | 接触子 | 2013年12月25日 | |
特許 5365670 | 基板検査装置 | 2013年12月11日 | |
特許 5353968 | 基板検査用治具 | 2013年11月27日 | |
特許 5299037 | 検査用プローブ | 2013年 9月25日 | |
特許 5282873 | 基板検査用の一対のプローブ及び基板検査用治具 | 2013年 9月 4日 | |
特許 5245279 | 基板検査用治具及びこの治具における接続電極部の電極構造 | 2013年 7月24日 | |
特許 5228610 | 基板検査治具 | 2013年 7月 3日 | |
特許 5217063 | 検査方法及び検査装置 | 2013年 6月19日 | |
特許 5176368 | 基板検査装置 | 2013年 4月 3日 | |
特許 5146109 | 検査装置 | 2013年 2月20日 | |
特許 5130782 | 検査治具及び検査装置 | 2013年 1月30日 |
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5375516 5365670 5353968 5299037 5282873 5245279 5228610 5217063 5176368 5146109 5130782
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