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日本電産リード株式会社
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日本電産リード株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7605203 | 接触端子、検査治具、および検査装置 | 2024年12月24日 | |
| 特許 7597145 | 検査治具、および検査装置 | 2024年12月10日 | |
| 特許 7582196 | 検査治具、及び検査装置 | 2024年11月13日 | |
| 特許 7559764 | 基板検査方法、基板検査プログラム、及び基板検査装置 | 2024年10月 2日 | |
| 特許 7548292 | 基板実装用コネクタ | 2024年 9月10日 | |
| 特許 7548299 | 接触子ユニット、ソケットの集合体、及びコネクタ | 2024年 9月10日 | |
| 特許 7540178 | 基板保持治具 | 2024年 8月27日 | |
| 特許 7516962 | 検査治具、及び検査装置 | 2024年 7月17日 | |
| 特許 7509134 | 接触端子、検査治具、および検査装置 | 2024年 7月 2日 | |
| 特許 7509135 | 接触端子、検査治具、および検査装置 | 2024年 7月 2日 | |
| 特許 7501518 | 検出値補正システム、係数算出方法、及び検出値補正方法 | 2024年 6月18日 | |
| 特許 7480506 | ＭＩ素子の製造方法、及び、ＭＩ素子 | 2024年 5月10日 | |
| 特許 7476877 | 検査治具 | 2024年 5月 1日 | |
| 特許 7476926 | 検査治具 | 2024年 5月 1日 | |
| 特許 7472903 | 測定方法、及び検査装置 | 2024年 4月23日 |
22 件中 1-15 件を表示
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7605203 7597145 7582196 7559764 7548292 7548299 7540178 7516962 7509134 7509135 7501518 7480506 7476877 7476926 7472903
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＜エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け＞ 基礎から学ぶ／自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 ＜東京会場受講（対面）／Zoomオンライン受講 選択可＞ ＜見逃し視聴選択可＞
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パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 －自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法－ ＜東京会場受講（対面）／Zoomオンライン受講 選択可＞ ＜見逃し視聴選択可＞
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月17日(月) - 大阪 大阪市
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