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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第963位 32件
(
2012年:第2159位 10件)
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第1984位 11件
(
2012年:第1040位 27件)
(ランキング更新日:2026年4月17日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2013-257170 | 電気特性検出装置 | 2013年12月26日 | |
| 特開 2013-257195 | 基板検査治具及び基板検査装置 | 2013年12月26日 | |
| 特開 2013-253902 | 電気特性検出方法及び検出装置 | 2013年12月19日 | |
| 特開 2013-234893 | 絶縁検査方法及び絶縁検査装置 | 2013年11月21日 | |
| 特開 2013-217796 | 部品内蔵基板の検査方法 | 2013年10月24日 | |
| 特開 2013-214376 | コネクタ | 2013年10月17日 | |
| 特開 2013-210247 | 絶縁検査装置及び絶縁検査方法 | 2013年10月10日 | |
| 特開 2013-190270 | プローブ及び接続治具 | 2013年 9月26日 | |
| 特開 2013-181865 | 検査治具 | 2013年 9月12日 | |
| 特開 2013-178108 | 検査用治具 | 2013年 9月 9日 | |
| 特開 2013-174471 | 検査用治具及び接触子 | 2013年 9月 5日 | |
| 特開 2013-170917 | 基板内蔵電子部品の端子判別方法及び端子判別装置 | 2013年 9月 2日 | |
| 特開 2013-164304 | 基板検査用治具 | 2013年 8月22日 | |
| 特開 2013-164264 | 部品内蔵基板の検査方法 | 2013年 8月22日 | |
| 特開 2013-164381 | 基板検査装置のアライメント方法及び基板検査装置 | 2013年 8月22日 |
32 件中 1-15 件を表示
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2013-257170 2013-257195 2013-253902 2013-234893 2013-217796 2013-214376 2013-210247 2013-190270 2013-181865 2013-178108 2013-174471 2013-170917 2013-164304 2013-164264 2013-164381
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