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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2020-204529 | 検査装置 | 2020年12月24日 | |
再表 2019-102890 | 基板検査装置、検査位置補正方法、位置補正情報生成方法、及び位置補正情報生成システム | 2020年12月 3日 | |
特開 2020-165923 | 検査装置、及び検査方法 | 2020年10月 8日 | |
特開 2020-161472 | 接触子ユニット、これを構成するソケットの集合体、及び接触子ユニットを備えた多極コネクタ | 2020年10月 1日 | |
特開 2020-128881 | 短絡検査システム、及び短絡検査方法 | 2020年 8月27日 | |
特開 2020-118640 | キャパシタ検査装置、及びキャパシタ検査方法 | 2020年 8月 6日 | |
特開 2020-101427 | 検査治具、この検査治具の製造方法、及び検査治具を備えた検査装置 | 2020年 7月 2日 | |
再表 2019-16978 | 撮像装置、バンプ検査装置、及び撮像方法 | 2020年 6月18日 | |
再表 2019-208216 | 筒状体、及びその製造方法 | 2020年 5月 7日 | |
再表 2018-198859 | 検査治具、及び基板検査装置 | 2020年 3月12日 | |
再表 2018-173884 | プローブ構造体、及びプローブ構造体の製造方法 | 2020年 1月30日 | |
特開 2020-12685 | プローブ、検査治具、及び検査装置 | 2020年 1月23日 |
12 件中 1-12 件を表示
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2020-204529 2019-102890 2020-165923 2020-161472 2020-128881 2020-118640 2020-101427 2019-16978 2019-208216 2018-198859 2018-173884 2020-12685
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