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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第2159位 10件
(2011年:第1434位 17件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第1040位 27件
(2011年:第2389位 8件)
(ランキング更新日:2021年1月28日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2012-251837 | 接続端子、接続端子の製造方法及び微細ばね | 2012年12月20日 | |
特開 2012-237622 | 測定装置及び測定方法 | 2012年12月 6日 | |
特開 2012-230003 | 接触子及び検査用治具 | 2012年11月22日 | |
特開 2012-181186 | 検査治具 | 2012年 9月20日 | |
特開 2012-154670 | 検査用治具、検査用治具の電極構造及びその製造方法 | 2012年 8月16日 | |
特開 2012-49100 | 接続端子及び接続端子の製造方法 | 2012年 3月 8日 | |
特開 2012-47748 | 接続端子及び接続端子の製造方法 | 2012年 3月 8日 | |
特開 2012-32264 | 接触子及び接触子の製造方法 | 2012年 2月16日 | |
特開 2012-22001 | 基板検査装置 | 2012年 2月 2日 | |
再表 2010-8030 | ピン先端部のクリーニング機構を有する基板検査装置 | 2012年 1月 5日 |
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2012-251837 2012-237622 2012-230003 2012-181186 2012-154670 2012-49100 2012-47748 2012-32264 2012-22001 2010-8030
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