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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第107位 385件
(2019年:第120位 389件)
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第118位 239件
(2019年:第98位 282件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2020-151357 | 判定装置、判定方法、錠剤印刷装置および錠剤印刷方法 | 2020年 9月24日 | |
特開 2020-152009 | 印刷装置および乾燥方法 | 2020年 9月24日 | |
特開 2020-152035 | 印刷装置および印刷方法 | 2020年 9月24日 | |
特開 2020-152036 | 印刷装置および印刷方法 | 2020年 9月24日 | |
特開 2020-152037 | 印刷装置および印刷方法 | 2020年 9月24日 | |
特開 2020-152052 | センタリング装置、センタリング方法および検査システム | 2020年 9月24日 | |
特開 2020-152053 | センタリング装置、センタリング方法および検査システム | 2020年 9月24日 | |
特開 2020-152081 | 画像形成装置、画像形成方法およびプログラム | 2020年 9月24日 | |
特開 2020-152480 | 基板処理装置および基板処理方法 | 2020年 9月24日 | |
特開 2020-153619 | ウェブ乾燥装置 | 2020年 9月24日 | |
特開 2020-153761 | 検査装置、検査方法、電磁波情報処理装置、電磁波情報処理方法およびプログラム | 2020年 9月24日 | |
特開 2020-153854 | 基板検査装置、基板処理装置、基板検査方法および基板処理方法 | 2020年 9月24日 | |
特開 2020-153860 | オーバーレイ計測装置およびオーバーレイ計測方法 | 2020年 9月24日 | |
特開 2020-153916 | 検査システムおよび検査方法 | 2020年 9月24日 | |
特開 2020-154410 | 校正支援方法および校正支援プログラム | 2020年 9月24日 |
389 件中 61-75 件を表示
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2020-151357 2020-152009 2020-152035 2020-152036 2020-152037 2020-152052 2020-152053 2020-152081 2020-152480 2020-153619 2020-153761 2020-153854 2020-153860 2020-153916 2020-154410
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2月18日(火) -
2月19日(水) - 東京 港区
2月19日(水) -
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2月20日(木) - 東京 港区
2月20日(木) -
2月20日(木) -
2月20日(木) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月18日(火) -
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
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