アンリツ株式会社
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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第378位 96件
（
2017年：第526位 72件）
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第432位 61件
（
2017年：第387位 69件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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アンリツ株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2018-136165 | 測定結果表示装置及び測定結果表示方法 | 2018年 8月30日 | |
| 特開 2018-136166 | 測定結果表示装置及び測定結果表示方法 | 2018年 8月30日 | |
| 特開 2018-136261 | トリガ回路及びトリガ発生方法とサンプリングオシロスコープ及びサンプリング方法 | 2018年 8月30日 | |
| 特開 2018-137681 | トリガ回路及びトリガ発生方法とサンプリングオシロスコープ及びサンプリング方法 | 2018年 8月30日 | |
| 特開 2018-132443 | データ解析装置及びデータ解析方法 | 2018年 8月23日 | |
| 特開 2018-133683 | 周波数逓倍器及びそれを備えた測定装置 | 2018年 8月23日 | |
| 特開 2018-133735 | 差動回路及びＤ／Ａ変換装置 | 2018年 8月23日 | |
| 特開 2018-128813 | 画面分割表示装置、それを備えた測定装置、及び画面分割表示方法 | 2018年 8月16日 | |
| 特開 2018-128814 | 画面分割表示装置、それを備えた測定装置、及び画面分割表示方法 | 2018年 8月16日 | |
| 特開 2018-129650 | 位相特性補正システム及び位相特性補正方法 | 2018年 8月16日 | |
| 特開 2018-129740 | 測定モジュール、測定システム及び測定方法 | 2018年 8月16日 | |
| 特開 2018-124157 | 光通信システム評価装置 | 2018年 8月 9日 | |
| 特開 2018-124202 | 偏光解析装置および光スペクトラムアナライザ | 2018年 8月 9日 | |
| 特開 2018-124203 | 偏光解析装置および光スペクトラムアナライザ | 2018年 8月 9日 | |
| 特開 2018-124204 | 偏光解析装置および光スペクトラムアナライザ | 2018年 8月 9日 |
96 件中 46-60 件を表示
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2018-136165 2018-136166 2018-136261 2018-137681 2018-132443 2018-133683 2018-133735 2018-128813 2018-128814 2018-129650 2018-129740 2018-124157 2018-124202 2018-124203 2018-124204
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