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アンリツ株式会社

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　■　2020年特許取得件数ランキング　　　第463位　52件（2019年：第407位　64件）

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アンリツ株式会社の商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2020-205537	排他的論理和回路	2020年12月24日
特開 2020-193848	位相特性校正装置および位相特性校正方法	2020年12月 3日
特開 2020-195043	電波伝播測定装置とそのビームフォーミングの測定結果表示方法	2020年12月 3日
特開 2020-195085	信号試験装置とそのセルフテスト方法	2020年12月 3日
特開 2020-190514	物品検査装置及び物品検査方法	2020年11月26日
特開 2020-191544	伝送線路回路及び無線測定装置	2020年11月26日
特開 2020-191596	高周波スイッチ、シグナルジェネレータ、及びスペクトラムアナライザ	2020年11月26日
特開 2020-187087	光パルス試験装置	2020年11月19日
特開 2020-183917	物品検査装置及び物品検査方法	2020年11月12日
特開 2020-173605	クロック分配回路及びクロック分配方法と誤り率測定装置及び誤り率測定方法	2020年10月22日
特開 2020-161944	誤り測定器及びそれを用いた応答時間の測定方法	2020年10月 1日
特開 2020-155540	半導体光増幅器	2020年 9月24日
特開 2020-150446	可変低減イコライザ及びそれを用いた損失補償方法と誤り率測定器及び誤り率測定方法	2020年 9月17日
特開 2020-136707	誤り率測定装置及び誤り率測定方法	2020年 8月31日
特開 2020-136727	誤り率測定装置および誤り率測定方法	2020年 8月31日

65 件中 1-15 件を表示

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2020-205537 2020-193848 2020-195043 2020-195085 2020-190514 2020-191544 2020-191596 2020-187087 2020-183917 2020-173605 2020-161944 2020-155540 2020-150446 2020-136707 2020-136727

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