アンリツ株式会社
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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第506位 65件
（
2019年：第440位 84件）
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第463位 52件
（2019年：第407位 64件）
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アンリツ株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2020-205537 | 排他的論理和回路 | 2020年12月24日 | |
| 特開 2020-193848 | 位相特性校正装置および位相特性校正方法 | 2020年12月 3日 | |
| 特開 2020-195043 | 電波伝播測定装置とそのビームフォーミングの測定結果表示方法 | 2020年12月 3日 | |
| 特開 2020-195085 | 信号試験装置とそのセルフテスト方法 | 2020年12月 3日 | |
| 特開 2020-190514 | 物品検査装置及び物品検査方法 | 2020年11月26日 | |
| 特開 2020-191544 | 伝送線路回路及び無線測定装置 | 2020年11月26日 | |
| 特開 2020-191596 | 高周波スイッチ、シグナルジェネレータ、及びスペクトラムアナライザ | 2020年11月26日 | |
| 特開 2020-187087 | 光パルス試験装置 | 2020年11月19日 | |
| 特開 2020-183917 | 物品検査装置及び物品検査方法 | 2020年11月12日 | |
| 特開 2020-173605 | クロック分配回路及びクロック分配方法と誤り率測定装置及び誤り率測定方法 | 2020年10月22日 | |
| 特開 2020-161944 | 誤り測定器及びそれを用いた応答時間の測定方法 | 2020年10月 1日 | |
| 特開 2020-155540 | 半導体光増幅器 | 2020年 9月24日 | |
| 特開 2020-150446 | 可変低減イコライザ及びそれを用いた損失補償方法と誤り率測定器及び誤り率測定方法 | 2020年 9月17日 | |
| 特開 2020-136707 | 誤り率測定装置及び誤り率測定方法 | 2020年 8月31日 | |
| 特開 2020-136727 | 誤り率測定装置および誤り率測定方法 | 2020年 8月31日 |
65 件中 1-15 件を表示
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2020-205537 2020-193848 2020-195043 2020-195085 2020-190514 2020-191544 2020-191596 2020-187087 2020-183917 2020-173605 2020-161944 2020-155540 2020-150446 2020-136707 2020-136727
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