※ ログインすれば出願人(アンリツ株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2012年 出願公開件数ランキング 第395位 104件
(2011年:第315位 126件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第277位 132件
(2011年:第486位 66件)
(ランキング更新日:2025年5月2日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2012-252117 | 光変調器 | 2012年12月20日 | |
特開 2012-247261 | 位相特性推定装置並びにそれを備えた位相補正装置及び信号発生装置並びに位相特性推定方法 | 2012年12月13日 | |
特開 2012-222589 | OPUフレーム生成装置及びOPUフレーム試験装置 | 2012年11月12日 | |
特開 2012-213015 | 帯域制御評価装置 | 2012年11月 1日 | |
特開 2012-209780 | 移動体通信端末試験システム、基地局模擬装置、及び遅延時間測定方法 | 2012年10月25日 | |
特開 2012-208413 | 光ゲート素子 | 2012年10月25日 | |
特開 2012-208229 | 光遅延干渉計 | 2012年10月25日 | |
特開 2012-209667 | 周波数変換装置 | 2012年10月25日 | |
特開 2012-207970 | APD測定器の検査装置及び検査方法 | 2012年10月25日 | |
特開 2012-209793 | 移動体通信端末試験システム、解析方法、及び解析プログラム | 2012年10月25日 | |
特開 2012-202760 | フィルタ校正装置及び校正方法 | 2012年10月22日 | |
特開 2012-202938 | APD測定装置及び方法 | 2012年10月22日 | |
特開 2012-200024 | 信号測定装置及び方法 | 2012年10月18日 | |
特開 2012-199790 | フィルタ装置及び該装置を用いた測定システム並びにフィルタ方法 | 2012年10月18日 | |
特開 2012-198115 | スペクトルアナライザおよびその周波数特性補正方法 | 2012年10月18日 |
104 件中 1-15 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2012-252117 2012-247261 2012-222589 2012-213015 2012-209780 2012-208413 2012-208229 2012-209667 2012-207970 2012-209793 2012-202760 2012-202938 2012-200024 2012-199790 2012-198115
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。アンリツ株式会社の知財の動向チェックに便利です。
5月12日(月) -
5月13日(火) - 東京 港区
5月14日(水) - 東京 港区
5月14日(水) -
5月15日(木) - 東京 港区
5月16日(金) - 東京 千代田区
5月16日(金) -
5月16日(金) - 東京 千代田区
5月16日(金) -
5月12日(月) -
〒550-0005 大阪市西区西本町1-8-11 カクタスビル6F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒248-0006 神奈川県鎌倉市小町2-11-14 山中MRビル3F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
【大阪本社】 〒534-0024 大阪府大阪市都島区東野田町1-20-5 大阪京橋ビル4階 【東京支部】 〒150-0013 東京都港区浜松町2丁目2番15号 浜松町ダイヤビル2F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国商標 訴訟