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アンリツ株式会社

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　■　2023年出願公開件数ランキング　　　第310位　113件（2022年：第247位　147件）

　■　2023年特許取得件数ランキング　　　第264位　129件（2022年：第204位　163件）

（ランキング更新日：2026年10月15日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

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アンリツ株式会社の商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2023-182479	損失解析装置及び損失解析方法	2023年12月26日
特開 2023-182478	光パルス試験装置及び光パルス試験方法	2023年12月26日
特開 2023-182472	イベント検出装置及びイベント検出方法	2023年12月26日
特開 2023-178752	物品選別装置	2023年12月18日
特開 2023-178751	物品選別装置および物品検査装置	2023年12月18日
特開 2023-178016	可変減衰器、信号解析装置、及びインピーダンス調整方法	2023年12月14日
特開 2023-177960	シールド構造	2023年12月14日
特開 2023-170889	高周波モジュール	2023年12月 1日
特開 2023-167694	移動端末試験装置、及び移動端末試験方法	2023年11月24日
特開 2023-163365	撮像装置及び該撮像装置を用いた検査装置	2023年11月10日
特開 2023-162622	Ｘ線検査装置およびＸ線検査方法	2023年11月 9日
特開 2023-161808	導波管接続構造及びそれを用いた導波管スイッチ	2023年11月 8日
特開 2023-155696	測定装置、及び測定方法	2023年10月23日
特開 2023-155576	ニオイ検出装置	2023年10月23日
特開 2023-155695	測定装置、及び測定方法	2023年10月23日

113 件中 1-15 件を表示

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2023-182479 2023-182478 2023-182472 2023-178752 2023-178751 2023-178016 2023-177960 2023-170889 2023-167694 2023-163365 2023-162622 2023-161808 2023-155696 2023-155576 2023-155695

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