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アンリツ株式会社

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　■　2019年出願公開件数ランキング　　　第440位　84件（2018年：第378位　96件）

　■　2019年特許取得件数ランキング　　　第407位　64件（2018年：第432位　61件）

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アンリツ株式会社の商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2019-219255	アンテナ測定装置及びアンテナ測定方法	2019年12月26日
特開 2019-216330	ビット誤り訂正率推定装置及びビット誤り訂正率推定方法	2019年12月19日
特開 2019-216390	信号発生装置および信号発生方法	2019年12月19日
特開 2019-211245	近傍界測定装置及び近傍界測定方法	2019年12月12日
特開 2019-205041	測定装置及び測定方法	2019年11月28日
特開 2019-205042	測定装置及び測定方法	2019年11月28日
特開 2019-205112	信号発生装置および信号発生方法と誤り率測定装置および誤り率測定方法	2019年11月28日
特開 2019-201311	誤り率測定装置及び該装置のアイマージン測定方法	2019年11月21日
特開 2019-201312	誤り率測定装置及び該装置のパラメータ探索方法	2019年11月21日
特開 2019-191344	位相特性校正装置及び位相特性校正方法	2019年10月31日
特開 2019-193221	キャリブレーションシステム及びキャリブレーション方法	2019年10月31日
特開 2019-186669	３値信号発生装置及び３値信号発生方法とパルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法	2019年10月24日
特開 2019-178936	無線端末測定装置及び無線端末測定方法	2019年10月17日
特開 2019-174703	波長掃引光源、それを用いたＯＦＤＲ装置及び測定方法	2019年10月10日
特開 2019-176238	測定装置及び測定方法	2019年10月10日

84 件中 1-15 件を表示

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2019-219255 2019-216330 2019-216390 2019-211245 2019-205041 2019-205042 2019-205112 2019-201311 2019-201312 2019-191344 2019-193221 2019-186669 2019-178936 2019-174703 2019-176238

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