アンリツ株式会社
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■ 2019年 出願公開件数ランキング 第440位 84件
（
2018年：第378位 96件）
■ 2019年 特許取得件数ランキング 第407位 64件
（
2018年：第432位 61件）
（ランキング更新日：2025年1月31日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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アンリツ株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2019-219255 | アンテナ測定装置及びアンテナ測定方法 | 2019年12月26日 | |
| 特開 2019-216330 | ビット誤り訂正率推定装置及びビット誤り訂正率推定方法 | 2019年12月19日 | |
| 特開 2019-216390 | 信号発生装置および信号発生方法 | 2019年12月19日 | |
| 特開 2019-211245 | 近傍界測定装置及び近傍界測定方法 | 2019年12月12日 | |
| 特開 2019-205041 | 測定装置及び測定方法 | 2019年11月28日 | |
| 特開 2019-205042 | 測定装置及び測定方法 | 2019年11月28日 | |
| 特開 2019-205112 | 信号発生装置および信号発生方法と誤り率測定装置および誤り率測定方法 | 2019年11月28日 | |
| 特開 2019-201311 | 誤り率測定装置及び該装置のアイマージン測定方法 | 2019年11月21日 | |
| 特開 2019-201312 | 誤り率測定装置及び該装置のパラメータ探索方法 | 2019年11月21日 | |
| 特開 2019-191344 | 位相特性校正装置及び位相特性校正方法 | 2019年10月31日 | |
| 特開 2019-193221 | キャリブレーションシステム及びキャリブレーション方法 | 2019年10月31日 | |
| 特開 2019-186669 | ３値信号発生装置及び３値信号発生方法とパルスパターン発生装置及びパルスパターン発生方法 | 2019年10月24日 | |
| 特開 2019-178936 | 無線端末測定装置及び無線端末測定方法 | 2019年10月17日 | |
| 特開 2019-174703 | 波長掃引光源、それを用いたＯＦＤＲ装置及び測定方法 | 2019年10月10日 | |
| 特開 2019-176238 | 測定装置及び測定方法 | 2019年10月10日 |
84 件中 1-15 件を表示
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2019-219255 2019-216330 2019-216390 2019-211245 2019-205041 2019-205042 2019-205112 2019-201311 2019-201312 2019-191344 2019-193221 2019-186669 2019-178936 2019-174703 2019-176238
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