※ ログインすれば出願人(大塚電子株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2012年 出願公開件数ランキング 第3467位 5件 (2011年:第5141位 3件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第2665位 7件 (2011年:第3746位 4件)
(ランキング更新日:2025年1月22日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5073314 | 顕微測定装置 | 2012年11月14日 | |
特許 5030629 | ガス濃度の定量分析方法及び装置 | 2012年 9月19日 | |
特許 5028660 | 光学特性測定装置および光学特性測定方法 | 2012年 9月19日 | |
特許 4961591 | 溶液特性測定装置および溶液特性測定方法 | 2012年 6月27日 | |
特許 4926769 | 誤検知判定付きガス濃度測定方法、プログラム及び装置 | 2012年 5月 9日 | |
特許 4903648 | サイズ可変ステージ及び液晶基板の検査装置 | 2012年 3月28日 | |
特許 4882097 | 余剰液吸引機構および化学分析装置 | 2012年 2月22日 | 共同出願 |
7 件中 1-7 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
5073314 5030629 5028660 4961591 4926769 4903648 4882097
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。大塚電子株式会社の知財の動向チェックに便利です。
1月24日(金) - 東京 港区
1月24日(金) - 東京 千代田区
1月24日(金) -
1月24日(金) - 東京 千代田区
1月24日(金) - 大阪 大阪市
1月24日(金) - 神奈川 川崎市
1月24日(金) - 東京 千代田区
1月24日(金) - 東京 港区
1月27日(月) - 東京 港区
1月28日(火) - 東京 港区
1月28日(火) -
1月28日(火) -
1月28日(火) -
1月28日(火) - 大阪 大阪市
1月29日(水) - 東京 港区
1月29日(水) - 東京 港区
1月29日(水) - 東京 品川区
1月29日(水) -
1月29日(水) -
1月29日(水) -
1月30日(木) -
1月30日(木) -
1月30日(木) -
1月30日(木) - 東京 港区
1月31日(金) -
1月27日(月) - 東京 港区
東京都品川区東品川2丁目2番24号 天王洲セントラルタワー 22階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
京都市伏見区深草大亀谷万帖敷町446-2 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
愛知県名古屋市中区栄3-2-3 名古屋日興證券ビル4階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング