大塚電子株式会社
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第3467位 5件
（
2011年：第5141位 3件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第2665位 7件
（2011年：第3746位 4件）
（ランキング更新日：2025年3月3日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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大塚電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5073314 | 顕微測定装置 | 2012年11月14日 | |
| 特許 5030629 | ガス濃度の定量分析方法及び装置 | 2012年 9月19日 | |
| 特許 5028660 | 光学特性測定装置および光学特性測定方法 | 2012年 9月19日 | |
| 特許 4961591 | 溶液特性測定装置および溶液特性測定方法 | 2012年 6月27日 | |
| 特許 4926769 | 誤検知判定付きガス濃度測定方法、プログラム及び装置 | 2012年 5月 9日 | |
| 特許 4903648 | サイズ可変ステージ及び液晶基板の検査装置 | 2012年 3月28日 | |
| 特許 4882097 | 余剰液吸引機構および化学分析装置 | 2012年 2月22日 | 共同出願 |
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5073314 5030629 5028660 4961591 4926769 4903648 4882097
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