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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第4224位 4件 (2015年:第3535位 5件)
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第2017位 9件 (2015年:第3293位 4件)
(ランキング更新日:2025年1月31日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 6041691 | 測定装置および測定方法 | 2016年12月14日 | |
特許 6023485 | 光学特性測定システムおよび光学特性測定方法 | 2016年11月 9日 | |
特許 6001960 | 配光特性測定装置および配光特性測定方法 | 2016年10月 5日 | |
特許 5959644 | 光学測定装置 | 2016年 8月 2日 | |
特許 5944719 | 配光特性測定装置および配光特性測定方法 | 2016年 7月 5日 | |
特許 5938155 | 光学測定装置および光学測定方法 | 2016年 6月22日 | |
特許 5939678 | 光学特性測定装置及び光学特性測定方法 | 2016年 6月22日 | |
特許 5881458 | 光源支持装置およびそれを用いた光放射特性測定装置 | 2016年 3月 9日 | |
特許 5865160 | 輝度測定装置及び方法 | 2016年 2月17日 |
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6041691 6023485 6001960 5959644 5944719 5938155 5939678 5881458 5865160
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1月31日(金) -
1月31日(金) -
2月4日(火) - 東京 港区
2月4日(火) - 神奈川 川崎市
2月4日(火) -
2月4日(火) -
2月5日(水) - 東京 港区
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月6日(木) - 東京 港区
2月6日(木) -
2月7日(金) -
2月7日(金) - 東京 港区
2月7日(金) - 神奈川 横浜市
2月7日(金) -
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