大塚電子株式会社
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第2668位 8件
（
2012年：第3467位 5件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第1984位 11件
（2012年：第2665位 7件）
（ランキング更新日：2025年4月15日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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大塚電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5358822 | 状態測定装置および状態測定方法 | 2013年12月 4日 | |
| 特許 5309359 | 膜厚測定装置および膜厚測定方法 | 2013年10月 9日 | |
| 特許 5286571 | 全光束測定装置および全光束測定方法 | 2013年 9月11日 | |
| 特許 5246395 | 光学特性測定装置 | 2013年 7月24日 | |
| 特許 5217046 | 光学特性測定装置および光学特性測定方法 | 2013年 6月19日 | |
| 特許 5185160 | 反射型液晶セルのチルト角測定方法及び装置 | 2013年 4月17日 | |
| 特許 5184842 | 着色膜厚測定方法及び装置 | 2013年 4月17日 | |
| 特許 5172203 | 光学特性測定装置および測定方法 | 2013年 3月27日 | |
| 特許 5172204 | 光学特性測定装置およびフォーカス調整方法 | 2013年 3月27日 | |
| 特許 5156306 | 光学異方性測定装置および光学異方性測定方法 | 2013年 3月 6日 | |
| 特許 5150939 | 光学特性測定装置および光学特性測定方法 | 2013年 2月27日 |
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5358822 5309359 5286571 5246395 5217046 5185160 5184842 5172203 5172204 5156306 5150939
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